TFY4330 - Nanoverktøy

Faginformasjon

Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc

Øvingsopplegg

Våren 2008 var det ikke obligatoriske regneøvinger i faget. Enkle oppgaver etter hver lab ble levert, og i tillegg skulle større rapporter leveres inn etter Optics 1 og Optics 2 lab. Til slutt skal en case study leveres, som er en samlerapport av alle de tidligere labøvelsene.

Liste over forkortelser i Nanoverktøy

Listen er ikke utfyllende

• BF - Bright Field
• DF - Dark Field
• PC - Phase Contrast
• SPM - Surface Probe Microscopy
• AFM - Atomic Force Microscopy
• STM - Scanning Tunneling Microscopy
• XRD - X-Ray Diffraction
• EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
• EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
• XPS - X-ray Photon Spectroscopy
• TEM - Transmission Electron Microscopy
• HRTEM - High Resolution Transmission Electron Microscopy
• SEM - Scanning Electron Microscopy
• FIB - Focused Ion Beam
• HAADF - High Angle Annular Dark Field
• EFTEM - Energy Filtered TEM
• STEM - Scanning TEM