Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
(Oppdatert for V09) |
|||
| Linje 5: | Linje 5: | ||
*Vurderingsform: Skriftlig eksamen(50%), arbeider(50%) |
*Vurderingsform: Skriftlig eksamen(50%), arbeider(50%) |
||
*Eksamensdato: 28. mai |
*Eksamensdato: 28. mai |
||
| + | }} |
||
| + | |||
| + | {{Infobox |
||
| + | |Øvingsopplegg vår 2009 |
||
| + | |* Frivillige øvinger hver uke |
||
| + | }} |
||
| + | |||
| + | {{Infobox |
||
| + | |Lab vår 2009 |
||
| + | |* Info om lab |
||
}} |
}} |
||
| Linje 38: | Linje 48: | ||
*[[EFTEM]] - Energy Filtered TEM |
*[[EFTEM]] - Energy Filtered TEM |
||
*[[STEM]] - Scanning TEM |
*[[STEM]] - Scanning TEM |
||
| + | |||
| + | == Eksterne linker == |
||
| + | <!-- Byttt ut koden i lenkene og forandr til riktig semester i timeplanlinken --> |
||
| + | *[http://www.ntnu.no/studier/emner?emnekode=TFY4330 NTNUs fagbeskrivelse] |
||
| + | *[http://www.ntnu.no/studieinformasjon/timeplan/v09/?emnekode=TFY4330-1 Timeplan Vår09] |
||
[[Kategori:Obligatoriske emner]] |
[[Kategori:Obligatoriske emner]] |
||
Revisjonen fra 12. des. 2008 kl. 17:49
|
Fakta vår 2009
|
|
Øvingsopplegg vår 2009
|
|
Lab vår 2009
|
Faginformasjon
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Øvingsopplegg
Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres rapporter etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene.
Liste over forkortelser i Nanoverktøy
Listen er ikke utfyllende
- BF - Bright Field
- DF - Dark Field
- PC - Phase Contrast
- SPM - Surface Probe Microscopy
- AFM - Atomic Force Microscopy
- STM - Scanning Tunneling Microscopy
- XRD - X-Ray Diffraction
- EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
- EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
- XPS - X-ray Photon Spectroscopy
- TEM - Transmission Electron Microscopy
- HRTEM - High Resolution Transmission Electron Microscopy
- SEM - Scanning Electron Microscopy
- FIB - Focused Ion Beam
- HAADF - High Angle Annular Dark Field
- EFTEM - Energy Filtered TEM
- STEM - Scanning TEM
