Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
(Forskyvning av øvingsopplegg pga. Åretur) |
(→Liste over forkortelser i Nanoverktøy) |
||
Linje 52: | Linje 52: | ||
Listen er ikke utfyllende |
Listen er ikke utfyllende |
||
+ | *[[SPM]] - Scanning Probe Microscopy |
||
*[[BF]] - Bright Field |
*[[BF]] - Bright Field |
||
*[[DF]] - Dark Field |
*[[DF]] - Dark Field |
Revisjonen fra 23. mai 2009 kl. 18:48
Fakta vår 2009
|
Øvingsopplegg vår 2009
|
Lab vår 2009
|
Faginformasjon
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Øvingsopplegg
Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres rapporter etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene. Den foreløpige øvingsplanen er som følger:
WEEK | TOPIC |
---|---|
7 | Crystallography |
9(Tuesday) | Scattering, structure factors and XRD |
10 | Electron microscopy I |
12 | Electron microscopy II (electron diffraction) |
13 | Miscellaneous I |
14 | Spectroscopy |
17 | Miscellaneous II |
18 | Miscellaneous III (exam08) |
Liste over forkortelser i Nanoverktøy
Listen er ikke utfyllende
- SPM - Scanning Probe Microscopy
- BF - Bright Field
- DF - Dark Field
- PC - Phase Contrast
- SPM - Surface Probe Microscopy
- AFM - Atomic Force Microscopy
- STM - Scanning Tunneling Microscopy
- XRD - X-Ray Diffraction
- EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
- EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
- XPS - X-ray Photon Spectroscopy
- TEM - Transmission Electron Microscopy
- HRTEM - High Resolution Transmission Electron Microscopy
- SEM - Scanning Electron Microscopy
- FIB - Focused Ion Beam
- HAADF - High Angle Annular Dark Field
- EFTEM - Energy Filtered TEM
- STEM - Scanning TEM