Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
(Oppdaterte info om øvingsopplegg) |
|||
| Linje 9: | Linje 9: | ||
{{Infobox |
{{Infobox |
||
|Øvingsopplegg vår 2009 |
|Øvingsopplegg vår 2009 |
||
| − | |* Frivillige øvinger |
+ | |* Frivillige øvinger torsdager fra 14 til 16, i bestemte uker |
}} |
}} |
||
| Linje 26: | Linje 26: | ||
== Øvingsopplegg == |
== Øvingsopplegg == |
||
| − | Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres [[Rapport|rapporter]] etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene. |
+ | Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres [[Rapport|rapporter]] etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene. Den foreløpige øvingsplanen er som følger: |
| + | |||
| + | {| frame=box rules="all" |
||
| + | !WEEK !! TOPIC |
||
| + | |- |
||
| + | | 6 || Crystallography |
||
| + | |- |
||
| + | | 8(Tuesday) || Scattering, structure factors and XRD |
||
| + | |- |
||
| + | | 9 || Electron microscopy I |
||
| + | |- |
||
| + | | 11 || Electron microscopy II (electron diffraction) |
||
| + | |- |
||
| + | | 12 || Miscellaneous I |
||
| + | |- |
||
| + | | 13 || Spectroscopy |
||
| + | |- |
||
| + | | 17 || Miscellaneous II |
||
| + | |- |
||
| + | | 18 || Miscellaneous III (exam08) |
||
| + | |} |
||
| + | |||
== Liste over forkortelser i Nanoverktøy == |
== Liste over forkortelser i Nanoverktøy == |
||
Revisjonen fra 7. jan. 2009 kl. 03:10
|
Fakta vår 2009
|
|
Øvingsopplegg vår 2009
|
|
Lab vår 2009
|
Faginformasjon
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Øvingsopplegg
Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres rapporter etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene. Den foreløpige øvingsplanen er som følger:
| WEEK | TOPIC |
|---|---|
| 6 | Crystallography |
| 8(Tuesday) | Scattering, structure factors and XRD |
| 9 | Electron microscopy I |
| 11 | Electron microscopy II (electron diffraction) |
| 12 | Miscellaneous I |
| 13 | Spectroscopy |
| 17 | Miscellaneous II |
| 18 | Miscellaneous III (exam08) |
Liste over forkortelser i Nanoverktøy
Listen er ikke utfyllende
- BF - Bright Field
- DF - Dark Field
- PC - Phase Contrast
- SPM - Surface Probe Microscopy
- AFM - Atomic Force Microscopy
- STM - Scanning Tunneling Microscopy
- XRD - X-Ray Diffraction
- EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
- EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
- XPS - X-ray Photon Spectroscopy
- TEM - Transmission Electron Microscopy
- HRTEM - High Resolution Transmission Electron Microscopy
- SEM - Scanning Electron Microscopy
- FIB - Focused Ion Beam
- HAADF - High Angle Annular Dark Field
- EFTEM - Energy Filtered TEM
- STEM - Scanning TEM
