Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
m |
|||
| Linje 6: | Linje 6: | ||
Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. |
Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. |
||
Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc |
Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc |
||
| + | |||
| + | == Øvingsopplegg == |
||
| + | Våren 2008 var det ikke obligatoriske regneøvinger i faget. Enkle oppgaver etter hver lab ble levert, og i tillegg skulle større [[Rapport|rapporter]] leveres inn etter Optics 1 og Optics 2 lab. Til slutt skal en case study leveres, som er en samlerapport av alle de tidligere labøvelsene. |
||
== Liste over forkortelser i Nanomaterialer == |
== Liste over forkortelser i Nanomaterialer == |
||
Listen er ikke utfyllende |
Listen er ikke utfyllende |
||
| − | *[[ |
+ | *[[BF]] - Bright Field |
| − | *[[ |
+ | *[[DF]] - Dark Field |
| + | *[[PC]] - Phase Contrast |
||
| + | *[[SPM]] - Surface Probe Microscopy |
||
| + | *[[AFM]] - Atomic Force Microscopy |
||
| + | *[[STM]] - Scanning Tunneling Microscopy |
||
*[[XRD]] - X-Ray Diffraction |
*[[XRD]] - X-Ray Diffraction |
||
*[[EDS]] - Energy Dispersive Spectroscopy |
*[[EDS]] - Energy Dispersive Spectroscopy |
||
*[[EELS]] - Electron Energy-Loss Spectroscopy |
*[[EELS]] - Electron Energy-Loss Spectroscopy |
||
| − | *[[XPS]] - X-ray |
+ | *[[XPS]] - X-ray Photon Spectroscopy |
*[[TEM]] - Transmission Electron Microscopy |
*[[TEM]] - Transmission Electron Microscopy |
||
| + | *[[HRTEM]] - High Resolution Transmission Electron Microscopy |
||
*[[SEM]] - Scanning Electron Microscopy |
*[[SEM]] - Scanning Electron Microscopy |
||
*[[FIB]] - Focused Ion Beam |
*[[FIB]] - Focused Ion Beam |
||
| + | *[[HAADF]] - High Angle Annular Dark Field |
||
[[Kategori:Obligatoriske emner]] |
[[Kategori:Obligatoriske emner]] |
||
Revisjonen fra 23. okt. 2008 kl. 23:45
Faginformasjon
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Øvingsopplegg
Våren 2008 var det ikke obligatoriske regneøvinger i faget. Enkle oppgaver etter hver lab ble levert, og i tillegg skulle større rapporter leveres inn etter Optics 1 og Optics 2 lab. Til slutt skal en case study leveres, som er en samlerapport av alle de tidligere labøvelsene.
Liste over forkortelser i Nanomaterialer
Listen er ikke utfyllende
- BF - Bright Field
- DF - Dark Field
- PC - Phase Contrast
- SPM - Surface Probe Microscopy
- AFM - Atomic Force Microscopy
- STM - Scanning Tunneling Microscopy
- XRD - X-Ray Diffraction
- EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
- EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
- XPS - X-ray Photon Spectroscopy
- TEM - Transmission Electron Microscopy
- HRTEM - High Resolution Transmission Electron Microscopy
- SEM - Scanning Electron Microscopy
- FIB - Focused Ion Beam
- HAADF - High Angle Annular Dark Field
