Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
(→Liste over forkortelser i Nanomaterialer) |
(Oppdatert for V09) |
||
| Linje 1: | Linje 1: | ||
| + | {{Infobox |
||
| + | |Fakta vår 2009 |
||
| + | |*Foreleser: Antonius T. J. van Helvoort (Ton van Helvoort) |
||
| + | *Stud-ass: Vidar Tonaas Fauske |
||
| + | *Vurderingsform: Skriftlig eksamen(50%), arbeider(50%) |
||
| + | *Eksamensdato: 28. mai |
||
| + | }} |
||
| + | |||
== Faginformasjon == |
== Faginformasjon == |
||
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. |
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. |
||
| Linje 8: | Linje 16: | ||
== Øvingsopplegg == |
== Øvingsopplegg == |
||
| − | + | Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres [[Rapport|rapporter]] etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene. |
|
== Liste over forkortelser i Nanoverktøy == |
== Liste over forkortelser i Nanoverktøy == |
||
Revisjonen fra 12. des. 2008 kl. 13:53
|
Fakta vår 2009
|
Faginformasjon
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Øvingsopplegg
Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres rapporter etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene.
Liste over forkortelser i Nanoverktøy
Listen er ikke utfyllende
- BF - Bright Field
- DF - Dark Field
- PC - Phase Contrast
- SPM - Surface Probe Microscopy
- AFM - Atomic Force Microscopy
- STM - Scanning Tunneling Microscopy
- XRD - X-Ray Diffraction
- EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
- EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
- XPS - X-ray Photon Spectroscopy
- TEM - Transmission Electron Microscopy
- HRTEM - High Resolution Transmission Electron Microscopy
- SEM - Scanning Electron Microscopy
- FIB - Focused Ion Beam
- HAADF - High Angle Annular Dark Field
- EFTEM - Energy Filtered TEM
- STEM - Scanning TEM
