Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
m (TFY4330 - Nanomaterialer flyttet til TFY4330 - Nanoverktøy: Skrivefeil) |
(→Liste over forkortelser i Nanomaterialer) |
||
Linje 28: | Linje 28: | ||
*[[FIB]] - Focused Ion Beam |
*[[FIB]] - Focused Ion Beam |
||
*[[HAADF]] - High Angle Annular Dark Field |
*[[HAADF]] - High Angle Annular Dark Field |
||
+ | *[[EFTEM]] - Energy Filtered TEM |
||
+ | *[[STEM]] - Scanning TEM |
||
[[Kategori:Obligatoriske emner]] |
[[Kategori:Obligatoriske emner]] |
Revisjonen fra 12. des. 2008 kl. 12:43
Faginformasjon
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Øvingsopplegg
Våren 2008 var det ikke obligatoriske regneøvinger i faget. Enkle oppgaver etter hver lab ble levert, og i tillegg skulle større rapporter leveres inn etter Optics 1 og Optics 2 lab. Til slutt skal en case study leveres, som er en samlerapport av alle de tidligere labøvelsene.
Liste over forkortelser i Nanomaterialer
Listen er ikke utfyllende
- BF - Bright Field
- DF - Dark Field
- PC - Phase Contrast
- SPM - Surface Probe Microscopy
- AFM - Atomic Force Microscopy
- STM - Scanning Tunneling Microscopy
- XRD - X-Ray Diffraction
- EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
- EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
- XPS - X-ray Photon Spectroscopy
- TEM - Transmission Electron Microscopy
- HRTEM - High Resolution Transmission Electron Microscopy
- SEM - Scanning Electron Microscopy
- FIB - Focused Ion Beam
- HAADF - High Angle Annular Dark Field
- EFTEM - Energy Filtered TEM
- STEM - Scanning TEM