Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
| Linje 4: | Linje 4: | ||
*'''Vurderingsform:''': Skriftlig eksamen (50 %) og arbeider (50 %). |
*'''Vurderingsform:''': Skriftlig eksamen (50 %) og arbeider (50 %). |
||
*'''Hjelpemiddelkode D:''' ''Ingen trykte eller håndskrevne hjelpemidler tillatt. Bestemt, enkel kalkulator tillatt.'' |
*'''Hjelpemiddelkode D:''' ''Ingen trykte eller håndskrevne hjelpemidler tillatt. Bestemt, enkel kalkulator tillatt.'' |
||
| − | *'''Øvingsopplegg''': |
+ | *'''Øvingsopplegg''': - |
}} |
}} |
||
Revisjonen fra 26. apr. 2016 kl. 20:16
|
|
Innhold
Om emnet
Faglig innhold
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Øvingsopplegg
Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres rapporter etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene. Den foreløpige øvingsplanen er som følger:
| WEEK | TOPIC |
|---|---|
| 7 | Crystallography |
| 9(Tuesday) | Scattering, structure factors and XRD |
| 10 | Electron microscopy I |
| 12 | Electron microscopy II (electron diffraction) |
| 13 | Miscellaneous I |
| 14 | Spectroscopy |
| 17 | Miscellaneous II |
| 18 | Miscellaneous III (exam08) |
Teknikker i Nanotools
Listen er ikke utfyllende
- Diffraction
- SPM - Scanning Probe Microscopy
- BF - Bright Field
- DF - Dark Field
- PC - Phase Contrast
- AFM - Atomic Force Microscopy
- STM - Scanning Tunneling Microscopy
- XRD - X-Ray Diffraction
- EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
- EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
- XPS - X-ray Photon Spectroscopy
- TEM - Transmission Electron Microscopy
- HRTEM - High Resolution Transmission Electron Microscopy
- SEM - Scanning Electron Microscopy
- FIB - Focused Ion Beam
- HAADF - High Angle Annular Dark Field
- EFTEM - Energy Filtered TEM
- STEM - Scanning TEM
