Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
(→Teknikker i tools) |
|||
| Linje 1: | Linje 1: | ||
{{Infobox |
{{Infobox |
||
| + | | |
||
| − | |Fakta vår 2009 |
||
| + | |*'''Institutt''': |
||
| − | |*Foreleser: Antonius T. J. van Helvoort (Ton van Helvoort) |
||
| + | *'''Vurderingsform:''': |
||
| − | *Stud-ass: Vidar Tonaas Fauske |
||
| + | *'''Hjelpemiddelkode''': |
||
| − | *Vurderingsform: Skriftlig eksamen(50%), arbeider(50%) |
||
| ⚫ | |||
| − | *Eksamensdato: 28. mai |
||
}} |
}} |
||
| + | == Om emnet== |
||
| − | {{Infobox |
||
| + | === Faglig innhold=== |
||
| ⚫ | |||
| − | |* Frivillige øvinger torsdager fra 14 til 16, i bestemte uker |
||
| − | }} |
||
| − | |||
| − | {{Infobox |
||
| − | |Lab vår 2009 |
||
| − | |* Info om lab |
||
| − | }} |
||
| − | |||
| − | == Faginformasjon == |
||
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. |
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. |
||
Innføring i eksperimentelle metoder: |
Innføring i eksperimentelle metoder: |
||
| Linje 25: | Linje 16: | ||
Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc |
Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc |
||
| − | == Øvingsopplegg == |
+ | === Øvingsopplegg === |
Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres [[Rapport|rapporter]] etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene. Den foreløpige øvingsplanen er som følger: |
Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres [[Rapport|rapporter]] etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene. Den foreløpige øvingsplanen er som følger: |
||
| Linje 49: | Linje 40: | ||
| − | == Teknikker i |
+ | === Teknikker i Nanotools === |
Listen er ikke utfyllende |
Listen er ikke utfyllende |
||
| Linje 73: | Linje 64: | ||
[[Kategori: Teknikker i tools]] |
[[Kategori: Teknikker i tools]] |
||
| − | == |
+ | == Lenker == --> |
| + | ===NTNUs sider om emnet=== |
||
| − | <!-- Byttt ut koden i lenkene og forandr til riktig semester i timeplanlinken --> |
||
*[http://www.ntnu.no/studier/emner?emnekode=TFY4330 NTNUs fagbeskrivelse] |
*[http://www.ntnu.no/studier/emner?emnekode=TFY4330 NTNUs fagbeskrivelse] |
||
| − | *[http://www.ntnu.no/studieinformasjon/timeplan/v09/?emnekode=TFY4330-1 Timeplan Vår09] |
||
[[Kategori:Obligatoriske emner]] |
[[Kategori:Obligatoriske emner]] |
||
| − | [[Kategori:Fag |
+ | [[Kategori:Fag 6. semester]] |
[[Kategori:Fag]] |
[[Kategori:Fag]] |
||
Revisjonen fra 4. mai 2015 kl. 17:20
|
|
Innhold
Om emnet
Faglig innhold
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Øvingsopplegg
Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres rapporter etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene. Den foreløpige øvingsplanen er som følger:
| WEEK | TOPIC |
|---|---|
| 7 | Crystallography |
| 9(Tuesday) | Scattering, structure factors and XRD |
| 10 | Electron microscopy I |
| 12 | Electron microscopy II (electron diffraction) |
| 13 | Miscellaneous I |
| 14 | Spectroscopy |
| 17 | Miscellaneous II |
| 18 | Miscellaneous III (exam08) |
Teknikker i Nanotools
Listen er ikke utfyllende
- Diffraction
- SPM - Scanning Probe Microscopy
- BF - Bright Field
- DF - Dark Field
- PC - Phase Contrast
- AFM - Atomic Force Microscopy
- STM - Scanning Tunneling Microscopy
- XRD - X-Ray Diffraction
- EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
- EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
- XPS - X-ray Photon Spectroscopy
- TEM - Transmission Electron Microscopy
- HRTEM - High Resolution Transmission Electron Microscopy
- SEM - Scanning Electron Microscopy
- FIB - Focused Ion Beam
- HAADF - High Angle Annular Dark Field
- EFTEM - Energy Filtered TEM
- STEM - Scanning TEM
== Lenker == -->
