TFY4330 - Nanoverktøy

Institutt: IFY Vurderingsform:: Skriftlig eksamen (50 %) og arbeider (50 %). Hjelpemiddelkode D: Ingen trykte eller håndskrevne hjelpemidler tillatt. Bestemt, enkel kalkulator tillatt. Øvingsopplegg: -

Om emnet

Faglig innhold

Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc

Emnet har siden Justin Wells overtok gått over til å være prosjektbasert. Man går sammen som ei gruppe og velger et prosjekt som involverer bruk av teknikkene emnet omfatter, og skriver en rapport på slutten av semesteret.

Teknikker i Nanotools

Listen er ikke utfyllende

• Diffraction
• SPM - Scanning Probe Microscopy
• BF - Bright Field
• DF - Dark Field
• PC - Phase Contrast
• AFM - Atomic Force Microscopy
• STM - Scanning Tunneling Microscopy
• XRD - X-Ray Diffraction
• EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
• EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
• XPS - X-ray Photon Spectroscopy
• TEM - Transmission Electron Microscopy
• HRTEM - High Resolution Transmission Electron Microscopy
• SEM - Scanning Electron Microscopy
• FIB - Focused Ion Beam
• HAADF - High Angle Annular Dark Field
• EFTEM - Energy Filtered TEM
• STEM - Scanning TEM

Lenker

NTNUs sider om emnet

• NTNUs fagbeskrivelse