Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
| Linje 16: | Linje 16: | ||
Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc |
Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc |
||
| + | Emnet har siden Justin Wells overtok gått over til å være prosjektbasert. Man går sammen som ei gruppe og velger et prosjekt som involverer bruk av teknikkene emnet omfatter, og skriver en rapport på slutten av semesteret. |
||
| − | === Øvingsopplegg === |
||
| − | Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres [[Rapport|rapporter]] etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene. Den foreløpige øvingsplanen er som følger: |
||
| − | |||
| − | {| frame=box rules="all" |
||
| − | !WEEK !! TOPIC |
||
| − | |- |
||
| − | | 7 || Crystallography |
||
| − | |- |
||
| − | | 9(Tuesday) || Scattering, structure factors and XRD |
||
| − | |- |
||
| − | | 10 || Electron microscopy I |
||
| − | |- |
||
| − | | 12 || Electron microscopy II (electron diffraction) |
||
| − | |- |
||
| − | | 13 || Miscellaneous I |
||
| − | |- |
||
| − | | 14 || Spectroscopy |
||
| − | |- |
||
| − | | 17 || Miscellaneous II |
||
| − | |- |
||
| − | | 18 || Miscellaneous III (exam08) |
||
| − | |} |
||
| − | |||
=== Teknikker i Nanotools === |
=== Teknikker i Nanotools === |
||
Revisjonen fra 11. okt. 2016 kl. 21:41
|
|
Innhold
Om emnet
Faglig innhold
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Emnet har siden Justin Wells overtok gått over til å være prosjektbasert. Man går sammen som ei gruppe og velger et prosjekt som involverer bruk av teknikkene emnet omfatter, og skriver en rapport på slutten av semesteret.
Teknikker i Nanotools
Listen er ikke utfyllende
- Diffraction
- SPM - Scanning Probe Microscopy
- BF - Bright Field
- DF - Dark Field
- PC - Phase Contrast
- AFM - Atomic Force Microscopy
- STM - Scanning Tunneling Microscopy
- XRD - X-Ray Diffraction
- EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
- EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
- XPS - X-ray Photon Spectroscopy
- TEM - Transmission Electron Microscopy
- HRTEM - High Resolution Transmission Electron Microscopy
- SEM - Scanning Electron Microscopy
- FIB - Focused Ion Beam
- HAADF - High Angle Annular Dark Field
- EFTEM - Energy Filtered TEM
- STEM - Scanning TEM
