TFY4330 - Nanoverktøy

Faginformasjon

Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc

Liste over forkortelser i Nanomaterialer

Listen er ikke utfyllende

• AFM - Atomic Force Microscope
• STM - Scanning Tunnelign Microscope
• XRD - X-Ray Diffraction
• EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
• EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
• XPS - X-ray Powder Spectroscopy (?)
• TEM - Transmission Electron Microscopy
• SEM - Scanning Electron Microscopy
• FIB - Focused Ion Beam