TFY4330 - Nanoverktøy
Fra Nanowiki
Revisjon per 29. sep. 2008 kl. 13:52 av Jornhwan (diskusjon | bidrag) (→Liste over forkortelser i Nanomaterialer)
Faginformasjon
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Liste over forkortelser i Nanomaterialer
Listen er ikke utfyllende
- AFM - Atomic Force Microscope
- STM - Scanning Tunnelign Microscope
- XRD - X-Ray Diffraction
- EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
- EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
- XPS - X-ray Powder Spectroscopy (?)
- TEM - Transmission Electron Microscopy
- SEM - Scanning Electron Microscopy
- FIB - Focused Ion Beam