Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
(→Liste over forkortelser i Nanomaterialer) |
m |
||
| Linje 19: | Linje 19: | ||
*[[SEM]] - Scanning Electron Microscopy |
*[[SEM]] - Scanning Electron Microscopy |
||
*[[FIB]] - Focused Ion Beam |
*[[FIB]] - Focused Ion Beam |
||
| + | |||
| + | [[Kategori:Obligatoriske emner]] |
||
| + | [[Kategori:Fag 4. semester]] |
||
| + | [[Kategori:Fag]] |
||
Revisjonen fra 30. sep. 2008 kl. 00:36
Faginformasjon
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Liste over forkortelser i Nanomaterialer
Listen er ikke utfyllende
- AFM - Atomic Force Microscope
- STM - Scanning Tunnelign Microscope
- XRD - X-Ray Diffraction
- EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
- EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
- XPS - X-ray Powder Spectroscopy (?)
- TEM - Transmission Electron Microscopy
- SEM - Scanning Electron Microscopy
- FIB - Focused Ion Beam
