Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
(→Faginformasjon) |
(→Liste over forkortelser i Nanomaterialer) |
||
| Linje 8: | Linje 8: | ||
== Liste over forkortelser i Nanomaterialer == |
== Liste over forkortelser i Nanomaterialer == |
||
| + | Listen er ikke utfyllende |
||
| ⚫ | |||
| + | |||
| ⚫ | |||
| ⚫ | |||
| ⚫ | |||
| ⚫ | |||
| − | EDS - Energy Dispersive Spectroscopy |
||
| ⚫ | |||
| − | EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy |
||
| − | + | *[[EDS]] - Energy Dispersive Spectroscopy |
|
| − | + | *[[EELS]] - Electron Energy-Loss Spectroscopy |
|
| + | *[[XPS]] - X-ray Powder Spectroscopy (?) |
||
| ⚫ | |||
| + | *[[TEM]] - Transmission Electron Microscopy |
||
| ⚫ | |||
| ⚫ | |||
| ⚫ | |||
Revisjonen fra 29. sep. 2008 kl. 13:52
Faginformasjon
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Liste over forkortelser i Nanomaterialer
Listen er ikke utfyllende
- AFM - Atomic Force Microscope
- STM - Scanning Tunnelign Microscope
- XRD - X-Ray Diffraction
- EDS - Energy Dispersive Spectroscopy
- EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy
- XPS - X-ray Powder Spectroscopy (?)
- TEM - Transmission Electron Microscopy
- SEM - Scanning Electron Microscopy
- FIB - Focused Ion Beam
