http://nanowiki.no/api.php?action=feedcontributions&feedformat=atom&user=AndrereiNanoWiki - Brukerbidrag [nb]2026-04-16T08:11:15ZBrukerbidragMediaWiki 1.44.2http://nanowiki.no/index.php?title=Prosjektoppgave&diff=4765Prosjektoppgave2011-02-01T22:17:24Z<p>Andrerei: /* Elektro */</p>
<hr />
<div>I 9. semester (dvs. høst i 5. klasse etter vanlig studieprogresjon) skal alle studenter gjennomføre en prosjektoppgave verdt 15 studiepoeng. Venligvis er oppgavene praktiske (i motsetning til teoretiske oppgaver eller literaturstudier). På slutten av semester skriver man en rapport som er den delen av arbeidet som legges til grunnlag for sensur av hele oppgaven.\\<br />
Prosjektet kan enten gjøres ved et institutt på NTNU eller eksternt ved andre institusjoner (dette gjelder også [[Master|masteren]] i 10. semester. Eksempler på institutter som nanostudenter har skrevet prosjekt hos er IFY, IMT og IVT. Av eksterne institusjoner kan IFE og Radiumhospitalet nevnes.<br />
<br />
<br />
<br />
=Rapporter=<br />
Under følger rapporter skrevet av studenter på innen de forskjellige fordypningsretningene på nano. Disse kan være nyttige å kikke på før man begynner å skrive sin egen oppgave, og også underveis i prosessen.<br />
==Høst 2010==<br />
===Bio===<br />
* [[Media:SigmundBio2010.pdf|Photochemical Internalization of Chitosan/pDNA Nanoparticles]] av Sigmund Østtveit Størset. Sammarbeid mellom Institutt for Fysikk ved NTNU (Catharina de Lange Davies) og Institutt for Strålingsbiologi ved Radiumhospitalet (Kristian Berg).<br />
* [[Media:TCbio2010_v2.pdf|Lessons from Nature]] av Thor Christian Hobæk. Veiledet av Professor Christian Thaulow ved Institutt for produktutvikling og materialer (IPM).<br />
<br />
===Elektro===<br />
* [[Media:Gpu_scattering_v1.pdf|X-Ray Scattering Simulations Using GPU-Enabled Algorithms]] av Andreas Lønning Reiten. Veiledet av Dag W. Breiby og Jostein Bø Fløystad ved Institutt for fysikk.<br />
<br />
===Materialer===<br />
* [[Media:CNC-project.pdf|Carbon Nanocones as Anode Material in Lithium Ion Batteries]] av [[Bruker:Mariusuv|mariusuv]]. IMT prosjekt av ypperste klasse, godt veiledet av Fride Vullum-Bruer og med Morten Onsrud som støttespiller i de hardeste stunder på laben.<br />
<br />
==Vår 2011==<br />
===Bio===<br />
===Elektro===<br />
===Materialer===<br />
<br />
<br />
==Høst 2011==<br />
===Bio===<br />
===Elektro===<br />
===Materialer===</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Fil:Gpu_scattering_v1.pdf&diff=4764Fil:Gpu scattering v1.pdf2011-02-01T22:12:34Z<p>Andrerei: Prosjektoppgave skrevet høsten 2010 av Andreas L. Reiten ved Institutt for fysikk under Avdeling for kondenserte mediers fysikk. Veiledere: Dag W. Breiby og Jostein Bø Fløystad.</p>
<hr />
<div>Prosjektoppgave skrevet høsten 2010 av Andreas L. Reiten ved Institutt for fysikk under Avdeling for kondenserte mediers fysikk. Veiledere: Dag W. Breiby og Jostein Bø Fløystad.</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=TFY4255&diff=4613TFY42552010-08-26T19:07:24Z<p>Andrerei: Omdirigerer til TFY4255 - Materialfysikk</p>
<hr />
<div>#REDIRECT [[TFY4255 - Materialfysikk]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Fagoversikt&diff=4612Fagoversikt2010-08-26T19:05:12Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>For Studiehåndbok for teknologistudiet (sivilingeniør) ved NTNU 2009-2010 se [http://www.ntnu.no/studier/studiehandbok/teknologi her]. Denne inneholder overgangsordninger for 3. klasse i 2009/2010.<br />
<br />
== Felles obligatoriske emner i fagplanen ==<br />
<br />
=== 1. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TDT4105]]<br />
| Informasjonsteknologi, GK<br />
| 1. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4220]]<br />
| Nanoteknologi intro<br />
| 1. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMA4100]]<br />
| Matematikk 1<br />
| 1. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4115]]<br />
| Fysikk<br />
| 1. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMA4105]]<br />
| Matematikk 2<br />
| 2. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMA4115]]<br />
| Matematikk 3<br />
| 2. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4110]]<br />
| Kjemi<br />
| 2. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[EXPH0001]]<br />
| Filosofi og vitenskapsteori<br />
| 2. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
=== 2. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Studiepoeng<br />
|-<br />
| [[TBT4160]]<br />
| Organisk kjemi og biokjemi (1)<br />
| 3. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4180]]<br />
| Halvlederteknologi<br />
| 3. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4185]]<br />
| Materialteknologi<br />
| 3. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMA4130]]<br />
| Matematikk 4N<br />
| 3. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4120]]<br />
| Elektromagnetisme<br />
| 4. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4115]]<br />
| Overflate- og kolloidkjemi (2)<br />
| 4. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKJ4215]]<br />
| Statistisk termodynamikk i kjemi og biologi<br />
| 4. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMA4245]]<br />
| Statistikk<br />
| 4. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
Fra studieåret 2010/2011:<br />
<br />
(1) Splittes til to fag Organisk kjemi GK og Bioteknologi GK.<br />
<br />
(2) Byttes ut med Bioteknologi GK, gjøres obligatorisk for NanoMEM og valgbart for Bionano og Nanoelektronikk i 3. klasse.<br />
<br />
=== 3. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TFY4170]]<br />
| Fysikk 2<br />
| 5. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4335]]<br />
| Bionanovitenskap<br />
| 5. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4185]]<br />
| Måleteknikk<br />
| 5. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4320]]<br />
| Nanomaterialer<br />
| 5. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4220]]<br />
| Faste stoffers fysikk (erstatter TFE4215, er like)<br />
| 6. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TIØ4257]]<br />
| Teknologiledelse<br />
| 6. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
=== 4. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| <br />
| Perspektivemne<br />
| 7. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[Eksperter i team]]<br />
| Eksperter i team<br />
| 8. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4330]]<br />
| Nanoverktøy (Revideres)<br />
| 8. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
=== 5. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Studiepoeng<br />
|-<br />
| <br />
| Ikke-teknologisk emne<br />
| 9. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| <br />
| Fordypningsemne<br />
| 9. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| <br />
| Fordypningsproskjekt<br />
| 9. Høst<br />
| 15<br />
|-<br />
| <br />
| Masteroppgave<br />
| 10. Vår<br />
| 30<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
==Emner for retning Bionano ==<br />
<br />
=== 3. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Merknad<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TKP4115]]<br />
| Overflate- og kolloidkjemi<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TBT4110]]<br />
| Mikrobiologi<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4195]]<br />
| Optikk<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4260]]<br />
| Cellbiologi og cellulær biofysikk<br />
| 6. Vår<br />
| Anbefalt<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMM4100]]<br />
| Materialteknikk I<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMM4175]]<br />
| Polymerer og kompositter<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
=== 4. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Merknad<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[MOL3014]]<br />
| Nanomedisin I - Bioanalyse<br />
| 7. Høst<br />
| Obligatorisk<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[MOL3005]]<br />
| Immunologi<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TBT4102]]<br />
| Biokjemi 1<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TBT4135]]<br />
| Biopolymerkjemi<br />
| 7. Høst<br />
| (1)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4265]]<br />
| Biofysiske mikroteknikker<br />
| 7. Høst<br />
| Anbefalt<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4160]]<br />
| Elektrooptikk og lasere<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[MOL3015]]<br />
| Nanomedisin II - Terapi<br />
| 8. Vår<br />
| Obligatorisk<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[MOL3007]]<br />
| Funksjonell genomforskning<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4195]]<br />
| Optikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TOKS3001]]<br />
| Medisinsk toksikologi<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TBT4110]]<br />
| Mikrobiologi<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TEP4100]]<br />
| Fluidmekanikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
(1) Anbefalt emne for studenter som planlegger fordypningsprosjekt eller master ved Institutt for bioteknologi.<br />
<br />
==Emner for retning Nanomaterialer ==<br />
<br />
=== 3. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Merknad<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TKP4115]]<br />
| Overflate- og kolloidkjemi<br />
| 6. Vår<br />
| Obligatorisk<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4190]]<br />
| Fabrikasjon og anvendelse av nanomaterialer<br />
| 6. Vår<br />
| (1)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4195]]<br />
| Optikk<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKJ4166]]<br />
| Kjemisk bindingsteori og spektroskopi<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4130]]<br />
| Polymerkjemi<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4285]]<br />
| Hydrogenteknologi, brenselceller og solceller<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TDT4100]]<br />
| Objektorientert programmering<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
(1) Obligatorisk, emnet må velges i 3. eller 4. årskurs.<br />
<br />
=== 4. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Merknad<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TFY4255]]<br />
| Materialfysikk<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|- <br />
| [[TFE4145]]<br />
| Elektronfysikk<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4300]]<br />
| Energi og miljøfysikk<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4155]]<br />
| Reaksjonskinetikk og katalyse<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4145]]<br />
| Keramisk material vitenskap<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4250]]<br />
| Atom- og molekylfysikk<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4155]]<br />
| Heterogene likevekter og fasediagram<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4160]]<br />
| Elektrooptikk og lasere<br />
| 7. Høst<br />
| (1)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKJ4205]]<br />
| Molekylmodellering<br />
| 7. Høst<br />
| (1)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4222]]<br />
| Metallenes mekaniske egenskaper<br />
| 7. Høst<br />
| (1)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4322]]<br />
| Solceller og fotovoltaiske nanostrukturer<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4245]]<br />
| Funksjonelle materialer<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4200]]<br />
| Optikk, videregående kurs<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4230]]<br />
| Nanofotonikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TEP4220]]<br />
| Energi og miljøkonsekvensanalyse<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4245]]<br />
| Faststoff-fysikk, videregående kurs<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4190]]<br />
| Fabrikasjon og anvendelse av nanomaterialer<br />
| 8. Vår<br />
| (2)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4210]]<br />
| Nanoelektronikk<br />
| 8. Vår<br />
| (1)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4130]]<br />
| Polymerkjemi<br />
| 8. Vår<br />
| (1), Gjelder kun 2009/2010<br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
<br />
(1) Ikke hensyn ved time- og eksamensplanlegging.<br />
<br />
(2) Obligatorisk, emnet må velges i 3. eller 4. årskurs.<br />
<br />
==Emner for retning Nanoelektronikk ==<br />
<br />
=== 3. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Merknad<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TFY4195]]<br />
| Optikk<br />
| 6. Vår<br />
| Anbefalt<br />
| 7,5<br />
|- <br />
| [[TDT4100]]<br />
| Objektorientert programmering<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|- <br />
| [[TDT4102]]<br />
| Prosedyre- og objektorientert programmering<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|- <br />
| [[TFY4215]]<br />
| Kjemisk fysikk/kvantemekanikk<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|- <br />
| [[TFY4235]]<br />
| Numerisk fysikk<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4115]]<br />
| Overflate og kolloidkjemi<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
=== 4. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Merknad<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TFY4250]]<br />
| Atom- og molekylfysikk<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[FY3114]]<br />
| Funksjonelle materialer<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4145]]<br />
| Elektronfysikk<br />
| 7. Høst<br />
| Anbefalt<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4160]]<br />
| Elektrooptikk og lasere<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4225]]<br />
| MEMS-design<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4205]]<br />
| Kvantemekanikk<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4230]]<br />
| Nanofotonikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4340]]<br />
| Mesoskopisk fysikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4165]]<br />
| Anvendt fotonikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4210]]<br />
| Nanoelektronikk<br />
| 8. Vår<br />
| Anbefalt<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4210]]<br />
| Anvendt kvantemekanikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4245]]<br />
| Faststoff-fysikk, videregående kurs<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
==Emner utenom fagplanen==<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Studiepoeng<br />
|-<br />
| [[NEVR2010]]<br />
| Innføring i nevrovitenskap<br />
| 15<br />
|-<br />
| [[NEVR2020]]<br />
| Innføring i nevrovitenskap<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[MFEL1010]]<br />
| Innføring i medisin for ikke-medisinere<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[FY3020]]<br />
| Romteknologi I<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TTT4235]]<br />
| Romteknologi II<br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
==Eldre fagplaner==<br />
*[[Emner i fagplanen 2009/2010]]<br />
*[[Emner i fagplanen 2008/2009]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Fagoversikt&diff=4611Fagoversikt2010-08-26T19:03:51Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>For Studiehåndbok for teknologistudiet (sivilingeniør) ved NTNU 2009-2010 se [http://www.ntnu.no/studier/studiehandbok/teknologi her]. Denne inneholder overgangsordninger for 3. klasse i 2009/2010.<br />
<br />
== Felles obligatoriske emner i fagplanen ==<br />
<br />
=== 1. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TDT4105]]<br />
| Informasjonsteknologi, GK<br />
| 1. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4220]]<br />
| Nanoteknologi intro<br />
| 1. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMA4100]]<br />
| Matematikk 1<br />
| 1. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4115]]<br />
| Fysikk<br />
| 1. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMA4105]]<br />
| Matematikk 2<br />
| 2. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMA4115]]<br />
| Matematikk 3<br />
| 2. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4110]]<br />
| Kjemi<br />
| 2. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[EXPH0001]]<br />
| Filosofi og vitenskapsteori<br />
| 2. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
=== 2. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Studiepoeng<br />
|-<br />
| [[TBT4160]]<br />
| Organisk kjemi og biokjemi (1)<br />
| 3. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4180]]<br />
| Halvlederteknologi<br />
| 3. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4185]]<br />
| Materialteknologi<br />
| 3. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMA4130]]<br />
| Matematikk 4N<br />
| 3. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4120]]<br />
| Elektromagnetisme<br />
| 4. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4115]]<br />
| Overflate- og kolloidkjemi (2)<br />
| 4. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKJ4215]]<br />
| Statistisk termodynamikk i kjemi og biologi<br />
| 4. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMA4245]]<br />
| Statistikk<br />
| 4. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
Fra studieåret 2010/2011:<br />
<br />
(1) Splittes til to fag Organisk kjemi GK og Bioteknologi GK.<br />
<br />
(2) Byttes ut med Bioteknologi GK, gjøres obligatorisk for NanoMEM og valgbart for Bionano og Nanoelektronikk i 3. klasse.<br />
<br />
=== 3. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TFY4170]]<br />
| Fysikk 2<br />
| 5. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4335]]<br />
| Bionanovitenskap<br />
| 5. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4185]]<br />
| Måleteknikk<br />
| 5. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4320]]<br />
| Nanomaterialer<br />
| 5. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4220]]<br />
| Faste stoffers fysikk (erstatter TFE4215, er like)<br />
| 6. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TIØ4257]]<br />
| Teknologiledelse<br />
| 6. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
=== 4. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| <br />
| Perspektivemne<br />
| 7. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[Eksperter i team]]<br />
| Eksperter i team<br />
| 8. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4330]]<br />
| Nanoverktøy (Revideres)<br />
| 8. Vår<br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
=== 5. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Studiepoeng<br />
|-<br />
| <br />
| Ikke-teknologisk emne<br />
| 9. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| <br />
| Fordypningsemne<br />
| 9. Høst<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| <br />
| Fordypningsproskjekt<br />
| 9. Høst<br />
| 15<br />
|-<br />
| <br />
| Masteroppgave<br />
| 10. Vår<br />
| 30<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
==Emner for retning Bionano ==<br />
<br />
=== 3. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Merknad<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TKP4115]]<br />
| Overflate- og kolloidkjemi<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TBT4110]]<br />
| Mikrobiologi<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4195]]<br />
| Optikk<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4260]]<br />
| Cellbiologi og cellulær biofysikk<br />
| 6. Vår<br />
| Anbefalt<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMM4100]]<br />
| Materialteknikk I<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMM4175]]<br />
| Polymerer og kompositter<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
=== 4. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Merknad<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[MOL3014]]<br />
| Nanomedisin I - Bioanalyse<br />
| 7. Høst<br />
| Obligatorisk<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[MOL3005]]<br />
| Immunologi<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TBT4102]]<br />
| Biokjemi 1<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TBT4135]]<br />
| Biopolymerkjemi<br />
| 7. Høst<br />
| (1)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4265]]<br />
| Biofysiske mikroteknikker<br />
| 7. Høst<br />
| Anbefalt<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4160]]<br />
| Elektrooptikk og lasere<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[MOL3015]]<br />
| Nanomedisin II - Terapi<br />
| 8. Vår<br />
| Obligatorisk<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[MOL3007]]<br />
| Funksjonell genomforskning<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4195]]<br />
| Optikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TOKS3001]]<br />
| Medisinsk toksikologi<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TBT4110]]<br />
| Mikrobiologi<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TEP4100]]<br />
| Fluidmekanikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
(1) Anbefalt emne for studenter som planlegger fordypningsprosjekt eller master ved Institutt for bioteknologi.<br />
<br />
==Emner for retning Nanomaterialer ==<br />
<br />
=== 3. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Merknad<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TKP4115]]<br />
| Overflate- og kolloidkjemi<br />
| 6. Vår<br />
| Obligatorisk<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4190]]<br />
| Fabrikasjon og anvendelse av nanomaterialer<br />
| 6. Vår<br />
| (1)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4195]]<br />
| Optikk<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKJ4166]]<br />
| Kjemisk bindingsteori og spektroskopi<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4130]]<br />
| Polymerkjemi<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4285]]<br />
| Hydrogenteknologi, brenselceller og solceller<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TDT4100]]<br />
| Objektorientert programmering<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
(1) Obligatorisk, emnet må velges i 3. eller 4. årskurs.<br />
<br />
=== 4. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Merknad<br />
! Studiepoeng<br />
| [[TFY4255]]<br />
|- <br />
| Materialfysikk<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|- <br />
| [[TFE4145]]<br />
| Elektronfysikk<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4300]]<br />
| Energi og miljøfysikk<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4155]]<br />
| Reaksjonskinetikk og katalyse<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4145]]<br />
| Keramisk material vitenskap<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4250]]<br />
| Atom- og molekylfysikk<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4155]]<br />
| Heterogene likevekter og fasediagram<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4160]]<br />
| Elektrooptikk og lasere<br />
| 7. Høst<br />
| (1)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKJ4205]]<br />
| Molekylmodellering<br />
| 7. Høst<br />
| (1)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4222]]<br />
| Metallenes mekaniske egenskaper<br />
| 7. Høst<br />
| (1)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4322]]<br />
| Solceller og fotovoltaiske nanostrukturer<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TMT4245]]<br />
| Funksjonelle materialer<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4200]]<br />
| Optikk, videregående kurs<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4230]]<br />
| Nanofotonikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TEP4220]]<br />
| Energi og miljøkonsekvensanalyse<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4245]]<br />
| Faststoff-fysikk, videregående kurs<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4190]]<br />
| Fabrikasjon og anvendelse av nanomaterialer<br />
| 8. Vår<br />
| (2)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4210]]<br />
| Nanoelektronikk<br />
| 8. Vår<br />
| (1)<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4130]]<br />
| Polymerkjemi<br />
| 8. Vår<br />
| (1), Gjelder kun 2009/2010<br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
<br />
(1) Ikke hensyn ved time- og eksamensplanlegging.<br />
<br />
(2) Obligatorisk, emnet må velges i 3. eller 4. årskurs.<br />
<br />
==Emner for retning Nanoelektronikk ==<br />
<br />
=== 3. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Merknad<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TFY4195]]<br />
| Optikk<br />
| 6. Vår<br />
| Anbefalt<br />
| 7,5<br />
|- <br />
| [[TDT4100]]<br />
| Objektorientert programmering<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|- <br />
| [[TDT4102]]<br />
| Prosedyre- og objektorientert programmering<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|- <br />
| [[TFY4215]]<br />
| Kjemisk fysikk/kvantemekanikk<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|- <br />
| [[TFY4235]]<br />
| Numerisk fysikk<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TKP4115]]<br />
| Overflate og kolloidkjemi<br />
| 6. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
=== 4. klasse ===<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Semester<br />
! Merknad<br />
! Studiepoeng<br />
|- <br />
| [[TFY4250]]<br />
| Atom- og molekylfysikk<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[FY3114]]<br />
| Funksjonelle materialer<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4145]]<br />
| Elektronfysikk<br />
| 7. Høst<br />
| Anbefalt<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4160]]<br />
| Elektrooptikk og lasere<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4225]]<br />
| MEMS-design<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4205]]<br />
| Kvantemekanikk<br />
| 7. Høst<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4230]]<br />
| Nanofotonikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4340]]<br />
| Mesoskopisk fysikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4165]]<br />
| Anvendt fotonikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFE4210]]<br />
| Nanoelektronikk<br />
| 8. Vår<br />
| Anbefalt<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4210]]<br />
| Anvendt kvantemekanikk<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TFY4245]]<br />
| Faststoff-fysikk, videregående kurs<br />
| 8. Vår<br />
| <br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
==Emner utenom fagplanen==<br />
<br />
{| class="wikitable sortable"<br />
|- <br />
! Fagkode<br />
! Emnetittel<br />
! Studiepoeng<br />
|-<br />
| [[NEVR2010]]<br />
| Innføring i nevrovitenskap<br />
| 15<br />
|-<br />
| [[NEVR2020]]<br />
| Innføring i nevrovitenskap<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[MFEL1010]]<br />
| Innføring i medisin for ikke-medisinere<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[FY3020]]<br />
| Romteknologi I<br />
| 7,5<br />
|-<br />
| [[TTT4235]]<br />
| Romteknologi II<br />
| 7,5<br />
|-<br />
|}<br />
<br />
==Eldre fagplaner==<br />
*[[Emner i fagplanen 2009/2010]]<br />
*[[Emner i fagplanen 2008/2009]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=TFY4255_-_Materialfysikk&diff=4610TFY4255 - Materialfysikk2010-08-26T18:57:27Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>''Denne artikkelen er en direkte kopi av en forumpost på timini.no om faget TFY4255 - Materialfysikk. Innlegget ble skrevet høsten 2010 av en student på retningen nanoelektronikk''<br />
<br />
Dette faget er egentlig et fag som egner seg for flere enn bare material-folka. Jeg, blant annet, er jo på elektronikk, og hadde stor nytte av det. Jeg vil anbefale det til alle som er interessert i røntgen-diffraksjon eller elektron-diffraksjon. Passer fint høsten i 4. klasse, men kanskje også som ekstra-fag i 5.?<br />
<br />
* Tema: Kunne strengt tatt hatt navnet "Experimental X-ray diffraction", for det handler mye om røntgen-diffraksjon, teori og praksis. Etter endt kurs skal man kunne til en viss grad hvordan man leser informasjon ut fra et sprednings-eksperiment, som for eksempel krystallstruktur og avstand mellom atomer. Man får også innblikk i nyere og mer eksotiske metoder innen røntgen og ED, som X-ray tomography, SAXS, X-ray raster scanning, RHEED, LEED, etc.<br />
* Vanskelighetsgrad: Medium. Er nok en fordel å ha hatt optikk, men det skal også gå bra uten. Det er mye god fysikk i dette faget, men det viktigste man lærer er at praksis ikke stemmer med teorien i spredningseksperimenter, så mesteparten av tiden går ut på å finne ut hvorfor den ikke gjør det.<br />
* Foreleser: Dag W. Breiby. Kanskje den beste norske foreleseren jeg har hatt, og veldig kunnskapsrik. Han virker en smule skummel i starten, når han ikke liker at folk kommer for sent, ber folk ta plass på første rad og ikke bakerste, og nekter å forelese videre hvis ingen svarer på spørsmålene hans. Men når man venner seg til det, så er entusiasmen hans veldig smittsom, og jeg endte opp med å få med meg tilnærmet alle forelesningene, rett og slett fordi det var spennende! Dag Breiby er forresten min (og Andreas) sin veileder i prosjekt-/master-oppgave.<br />
* Bok: "Materials physics", Emil Samuelsen. Billig kompendium fåes kjøpt på Insitutt for Fysikk. Vi betalte vel en hundrelapp for den (?). Rundt 150 sider. Bare deler av boka er lettlest, og ganske mye er egentlig ikke så relevant. Jeg vil anbefale å gå til innkjøp av en annen bok som jeg ikke husker navnet på. Jeg tror den heter "Experimental X-ray physics" eller noe i den dur. Foreleseren kan nok vise dere boken. Jeg lånte den noen dager og syntes den var veldig god.<br />
* Labøvinger: Skulle i utgangspunktet være 5 stk, med rapportskriving fra hver og én, hvorav 4 av 5 ville telle 25% på totalkarakteren. Dette virker i utgangspunktet ganske skummelt, og det er riktig at man ender opp med å bruke mye tid på disse. Imidlertid kan jeg med hånda på hjertet si at jeg aldri har lært så mye om rapportskriving i noe som helst annet fag. Dette fordi Dag Breiby faktisk stiller krav til hvordan rapporten skal se ut. Mye å lære her altså! En annen artig ting med laboppgavene er at de ofte er åpnere enn i andre fag. For eksempel handler den siste laboppgaven om å tolke resultatene fra et sprednings-eksperiment, uten å få så veldig mye hjelp. Man må selv trekke konklusjonene fra de eksperimentelle resultatene. Ikke lett, men veldig lærerikt!<br />
* Øvinger: Frivillige i 09. Vanskelige, men lærerike. Jeg gjorde dem ikke, siden jeg var for sløv til å komme meg opp om morgenen.<br />
* Eksamen: Noen andre må fortelle om skriftlig eksamen. Jeg hadde muntlig, siden eksamensdatoen kræsjet med et annet fag. Muntlig var som alltid veldig skummelt, men hvis man har rimelig god kontroll over faget, så er det desto enklere å cruise gjennom eksamen til en bra karakter!<br />
* Oppsummering: Et veldig interessant fag, med to store streker under foreleseren. Alle har vi vel opplevd å få forventningene til et fag ødelagt av en håpløs foreleser. Dette faget hadde motsatt effekt for meg, siden foreleseren i seg selv gjorde at jeg valgte å bli værende på dette faget.</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=TFY4255_-_Materialfysikk&diff=4609TFY4255 - Materialfysikk2010-08-26T18:52:09Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>Dette faget er egentlig et fag som egner seg for flere enn bare material-folka. Jeg, blant annet, er jo på elektronikk, og hadde stor nytte av det. Jeg vil anbefale det til alle som er interessert i røntgen-diffraksjon eller elektron-diffraksjon. Passer fint høsten i 4. klasse, men kanskje også som ekstra-fag i 5.?<br />
<br />
* Tema: Kunne strengt tatt hatt navnet "Experimental X-ray diffraction", for det handler mye om røntgen-diffraksjon, teori og praksis. Etter endt kurs skal man kunne til en viss grad hvordan man leser informasjon ut fra et sprednings-eksperiment, som for eksempel krystallstruktur og avstand mellom atomer. Man får også innblikk i nyere og mer eksotiske metoder innen røntgen og ED, som X-ray tomography, SAXS, X-ray raster scanning, RHEED, LEED, etc.<br />
* Vanskelighetsgrad: Medium. Er nok en fordel å ha hatt optikk, men det skal også gå bra uten. Det er mye god fysikk i dette faget, men det viktigste man lærer er at praksis ikke stemmer med teorien i spredningseksperimenter, så mesteparten av tiden går ut på å finne ut hvorfor den ikke gjør det.<br />
* Foreleser: Dag W. Breiby. Kanskje den beste norske foreleseren jeg har hatt, og veldig kunnskapsrik. Han virker en smule skummel i starten, når han ikke liker at folk kommer for sent, ber folk ta plass på første rad og ikke bakerste, og nekter å forelese videre hvis ingen svarer på spørsmålene hans. Men når man venner seg til det, så er entusiasmen hans veldig smittsom, og jeg endte opp med å få med meg tilnærmet alle forelesningene, rett og slett fordi det var spennende! <br />
* Bok: "Materials physics", Emil Samuelsen. Billig kompendium fåes kjøpt på Insitutt for Fysikk. Vi betalte vel en hundrelapp for den (?). Rundt 150 sider. Bare deler av boka er lettlest, og ganske mye er egentlig ikke så relevant. Jeg vil anbefale å gå til innkjøp av en annen bok som jeg ikke husker navnet på. Jeg tror den heter "Experimental X-ray physics" eller noe i den dur. Foreleseren kan nok vise dere boken. Jeg lånte den noen dager og syntes den var veldig god.<br />
* Labøvinger: Skulle i utgangspunktet være 5 stk, med rapportskriving fra hver og én, hvorav 4 av 5 ville telle 25% på totalkarakteren. Dette virker i utgangspunktet ganske skummelt, og det er riktig at man ender opp med å bruke mye tid på disse. Imidlertid kan jeg med hånda på hjertet si at jeg aldri har lært så mye om rapportskriving i noe som helst annet fag. Dette fordi Dag Breiby faktisk stiller krav til hvordan rapporten skal se ut. Mye å lære her altså! En annen artig ting med laboppgavene er at de ofte er åpnere enn i andre fag. For eksempel handler den siste laboppgaven om å tolke resultatene fra et sprednings-eksperiment, uten å få så veldig mye hjelp. Man må selv trekke konklusjonene fra de eksperimentelle resultatene. Ikke lett, men veldig lærerikt!<br />
* Øvinger: Frivillige i 09. Vanskelige, men lærerike. Jeg gjorde dem ikke, siden jeg var for sløv til å komme meg opp om morgenen.<br />
* Eksamen: Noen andre må fortelle om skriftlig eksamen. Jeg hadde muntlig, siden eksamensdatoen kræsjet med et annet fag. Muntlig var som alltid veldig skummelt, men hvis man har rimelig god kontroll over faget, så er det desto enklere å cruise gjennom eksamen til en bra karakter!<br />
* Oppsummering: Et veldig interessant fag, med to store streker under foreleseren. Alle har vi vel opplevd å få forventningene til et fag ødelagt av en håpløs foreleser. Dette faget hadde motsatt effekt for meg, siden foreleseren i seg selv gjorde at jeg valgte å bli værende på dette faget.</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=TFY4255_-_Materialfysikk&diff=4608TFY4255 - Materialfysikk2010-08-26T18:50:33Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>Dette faget er egentlig et fag som egner seg for flere enn bare material-folka. Jeg, blant annet, er jo på elektronikk, og hadde stor nytte av det. Jeg vil anbefale det til alle som er interessert i røntgen-diffraksjon eller elektron-diffraksjon. Passer fint høsten i 4. klasse, men kanskje også som ekstra-fag i 5.?<br />
<br />
* Tema: Kunne strengt tatt hatt navnet "Experimental X-ray diffraction", for det handler mye om røntgen-diffraksjon, teori og praksis. Etter endt kurs skal man kunne til en viss grad hvordan man leser informasjon ut fra et sprednings-eksperiment, som for eksempel krystallstruktur og avstand mellom atomer. Man får også innblikk i nyere og mer eksotiske metoder innen røntgen og ED, som X-ray tomography, SAXS, X-ray raster scanning, RHEED, LEED, etc.<br />
* Vanskelighetsgrad: Medium. Er nok en fordel å ha hatt optikk, men det skal også gå bra uten. Det er mye god fysikk i dette faget, men det viktigste man lærer er at praksis ikke stemmer med teorien i spredningseksperimenter, så mesteparten av tiden går ut på å finne ut hvorfor den ikke gjør det.<br />
* Foreleser: Dag W. Breiby. Kanskje den beste norske foreleseren jeg har hatt, og veldig kunnskapsrik. Han virker en smule skummel i starten, når han ikke liker at folk kommer for sent, ber folk ta plass på første rad og ikke bakerste, og nekter å forelese videre hvis ingen svarer på spørsmålene hans. Men når man venner seg til det, så er entusiasmen hans veldig smittsom, og jeg endte opp med å få med meg tilnærmet alle forelesningene, rett og slett fordi det var spennende! Dag Breiby er forresten min (og Andreas) sin veileder i prosjekt-/master-oppgave.<br />
* Bok: "Materials physics", Emil Samuelsen. Billig kompendium fåes kjøpt på Insitutt for Fysikk. Vi betalte vel en hundrelapp for den (?). Rundt 150 sider. Bare deler av boka er lettlest, og ganske mye er egentlig ikke så relevant. Jeg vil anbefale å gå til innkjøp av en annen bok som jeg ikke husker navnet på. Jeg tror den heter "Experimental X-ray physics" eller noe i den dur. Foreleseren kan nok vise dere boken. Jeg lånte den noen dager og syntes den var veldig god.<br />
* Labøvinger: Skulle i utgangspunktet være 5 stk, med rapportskriving fra hver og én, hvorav 4 av 5 ville telle 25% på totalkarakteren. Dette virker i utgangspunktet ganske skummelt, og det er riktig at man ender opp med å bruke mye tid på disse. Imidlertid kan jeg med hånda på hjertet si at jeg aldri har lært så mye om rapportskriving i noe som helst annet fag. Dette fordi Dag Breiby faktisk stiller krav til hvordan rapporten skal se ut. Mye å lære her altså! En annen artig ting med laboppgavene er at de ofte er åpnere enn i andre fag. For eksempel handler den siste laboppgaven om å tolke resultatene fra et sprednings-eksperiment, uten å få så veldig mye hjelp. Man må selv trekke konklusjonene fra de eksperimentelle resultatene. Ikke lett, men veldig lærerikt!<br />
* Øvinger: Frivillige i 09. Vanskelige, men lærerike. Jeg gjorde dem ikke, siden jeg var for sløv til å komme meg opp om morgenen.<br />
* Eksamen: Noen andre må fortelle om skriftlig eksamen. Jeg hadde muntlig, siden eksamensdatoen kræsjet med et annet fag. Muntlig var som alltid veldig skummelt, men hvis man har rimelig god kontroll over faget, så er det desto enklere å cruise gjennom eksamen til en bra karakter!<br />
* Oppsummering: Et veldig interessant fag, med to store streker under foreleseren. Alle har vi vel opplevd å få forventningene til et fag ødelagt av en håpløs foreleser. Dette faget hadde motsatt effekt for meg, siden foreleseren i seg selv gjorde at jeg valgte å bli værende på dette faget.</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=TFY4255_-_Materialfysikk&diff=4607TFY4255 - Materialfysikk2010-08-26T18:50:07Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>Dette faget er egentlig et fag som egner seg for flere enn bare material-folka. Jeg, blant annet, er jo på elektronikk, og hadde stor nytte av det. Jeg vil anbefale det til alle som er interessert i røntgen-diffraksjon eller elektron-diffraksjon. Passer fint høsten i 4. klasse, men kanskje også som ekstra-fag i 5.?<br />
<br />
* Tema: Kunne strengt tatt hatt navnet "Experimental X-ray diffraction", for det handler mye om røntgen-diffraksjon, teori og praksis. Etter endt kurs skal man kunne til en viss grad hvordan man leser informasjon ut fra et sprednings-eksperiment, som for eksempel krystallstruktur og avstand mellom atomer. Man får også innblikk i nyere og mer eksotiske metoder innen røntgen og ED, som X-ray tomography, SAXS, X-ray raster scanning, RHEED, LEED, etc.<br />
* Vanskelighetsgrad: Medium. Er nok en fordel å ha hatt optikk, men det skal også gå bra uten. Det er mye god fysikk i dette faget, men det viktigste man lærer er at praksis ikke stemmer med teorien i spredningseksperimenter, så mesteparten av tiden går ut på å finne ut hvorfor den ikke gjør det.<br />
* Foreleser: Dag W. Breiby. Kanskje den beste norske foreleseren jeg har hatt, og veldig kunnskapsrik. Han virker en smule skummel i starten, når han ikke liker at folk kommer for sent, ber folk ta plass på første rad og ikke bakerste, og nekter å forelese videre hvis ingen svarer på spørsmålene hans. Men når man venner seg til det, så er entusiasmen hans veldig smittsom, og jeg endte opp med å få med meg tilnærmet alle forelesningene, rett og slett fordi det var spennende! Dag Breiby er forresten min (og Andreas) sin veileder i prosjekt-/master-oppgave.<br />
* Bok: "Materials physics", Emil Samuelsen. Billig kompendium fåes kjøpt på Insitutt for Fysikk. Vi betalte vel en hundrelapp for den (?). Rundt 150 sider. Bare deler av boka er lettlest, og ganske mye er egentlig ikke så relevant. Jeg vil anbefale å gå til innkjøp av en annen bok som jeg ikke husker navnet på. Jeg tror den heter "Experimental X-ray physics" eller noe i den dur. Foreleseren kan nok vise dere boken. Jeg lånte den noen dager og syntes den var veldig god.<br />
* Labøvinger: Skulle i utgangspunktet være 5 stk, med rapportskriving fra hver og én, hvorav 4 av 5 ville telle 25% på totalkarakteren. Dette virker i utgangspunktet ganske skummelt, og det er riktig at man ender opp med å bruke mye tid på disse. Imidlertid kan jeg med hånda på hjertet si at jeg aldri har lært så mye om rapportskriving i noe som helst annet fag. Dette fordi Dag Breiby faktisk stiller krav til hvordan rapporten skal se ut. Mye å lære her altså! En annen artig ting med laboppgavene er at de ofte er åpnere enn i andre fag. For eksempel handler den siste laboppgaven om å tolke resultatene fra et sprednings-eksperiment, uten å få så veldig mye hjelp. Man må selv trekke konklusjonene fra de eksperimentelle resultatene. Ikke lett, men veldig lærerikt!<br />
* Øvinger: Frivillige i 09. Vanskelige, men lærerike. Jeg gjorde dem ikke, siden jeg var for sløv til å komme meg opp om morgenen.<br />
* Eksamen: Noen andre må fortelle om skriftlig eksamen. Jeg hadde muntlig, siden eksamensdatoen kræsjet med et annet fag. Muntlig var som alltid veldig skummelt, men hvis man har rimelig god kontroll over faget, så er det desto enklere å cruise gjennom eksamen til en bra karakter!<br />
* Oppsummering: Et veldig interessant fag, med to store streker under foreleseren. Alle har vi vel opplevd å få forventningene til et fag ødelagt av en håpløs foreleser. Dette faget hadde motsatt effekt for meg, siden foreleseren i seg selv gjorde at jeg valgte å bli værende på dette faget.</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=TFY4255_-_Materialfysikk&diff=4606TFY4255 - Materialfysikk2010-08-26T18:49:44Z<p>Andrerei: Ny side: Dette faget er egentlig et fag som egner seg for flere enn bare material-folka. Jeg, blant annet, er jo på elektronikk, og hadde stor nytte av det. Jeg vil anbefale det til alle som er int...</p>
<hr />
<div>Dette faget er egentlig et fag som egner seg for flere enn bare material-folka. Jeg, blant annet, er jo på elektronikk, og hadde stor nytte av det. Jeg vil anbefale det til alle som er interessert i røntgen-diffraksjon eller elektron-diffraksjon. Passer fint høsten i 4. klasse, men kanskje også som ekstra-fag i 5.?<br />
<br />
* Tema: Kunne strengt tatt hatt navnet "Experimental X-ray diffraction", for det handler mye om røntgen-diffraksjon, teori og praksis. Etter endt kurs skal man kunne til en viss grad hvordan man leser informasjon ut fra et sprednings-eksperiment, som for eksempel krystallstruktur og avstand mellom atomer. Man får også innblikk i nyere og mer eksotiske metoder innen røntgen og ED, som X-ray tomography, SAXS, X-ray raster scanning, RHEED, LEED, etc.<br />
* Vanskelighetsgrad: Medium. Er nok en fordel å ha hatt optikk, men det skal også gå bra uten. Det er mye god fysikk i dette faget, men det viktigste man lærer er at praksis ikke stemmer med teorien i spredningseksperimenter, så mesteparten av tiden går ut på å finne ut hvorfor den ikke gjør det.<br />
* Foreleser: Dag W. Breiby. Kanskje den beste norske foreleseren jeg har hatt, og veldig kunnskapsrik. Han virker en smule skummel i starten, når han ikke liker at folk kommer for sent, ber folk ta plass på første rad og ikke bakerste, og nekter å forelese videre hvis ingen svarer på spørsmålene hans. Men når man venner seg til det, så er entusiasmen hans veldig smittsom, og jeg endte opp med å få med meg tilnærmet alle forelesningene, rett og slett fordi det var spennende! Dag Breiby er forresten min (og Andreas) sin veileder i prosjekt-/master-oppgave.<br />
* Bok: "Materials physics", Emil Samuelsen. Billig kompendium fåes kjøpt på Insitutt for Fysikk. Vi betalte vel en hundrelapp for den (?). Rundt 150 sider. Bare deler av boka er lettlest, og ganske mye er egentlig ikke så relevant. Jeg vil anbefale å gå til innkjøp av en annen bok som jeg ikke husker navnet på. Jeg tror den heter "Experimental X-ray physics" eller noe i den dur. Foreleseren kan nok vise dere boken. Jeg lånte den noen dager og syntes den var veldig god.<br />
* Labøvinger: Skulle i utgangspunktet være 5 stk, med rapportskriving fra hver og én, hvorav 4 av 5 ville telle 25% på totalkarakteren. Dette virker i utgangspunktet ganske skummelt, og det er riktig at man ender opp med å bruke mye tid på disse. Imidlertid kan jeg med hånda på hjertet si at jeg aldri har lært så mye om rapportskriving i noe som helst annet fag. Dette fordi Dag Breiby faktisk stiller krav til hvordan rapporten skal se ut. Mye å lære her altså! En annen artig ting med laboppgavene er at de ofte er åpnere enn i andre fag. For eksempel handler den siste laboppgaven om å tolke resultatene fra et sprednings-eksperiment, uten å få så veldig mye hjelp. Man må selv trekke konklusjonene fra de eksperimentelle resultatene. Ikke lett, men veldig lærerikt!<br />
* Øvinger: Frivillige i 09. Vanskelige, men lærerike. Jeg gjorde dem ikke, siden jeg var for sløv til å komme meg opp om morgenen.<br />
* Eksamen: Noen andre må fortelle om skriftlig eksamen. Jeg hadde muntlig, siden eksamensdatoen kræsjet med et annet fag. Muntlig var som alltid veldig skummelt, men hvis man har rimelig god kontroll over faget, så er det desto enklere å cruise gjennom eksamen til en bra karakter!<br />
* Oppsummering: Et veldig interessant fag, med to store streker under foreleseren. Alle har vi vel opplevd å få forventningene til et fag ødelagt av en håpløs foreleser. Dette faget hadde motsatt effekt for meg, siden foreleseren i seg selv gjorde at jeg valgte å bli værende på dette faget.</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4605Scanning near-field optical microscope2010-08-26T18:46:58Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode hvor proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
=== Virkemåte ===<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan denne innretningen fungerer. Proben er selve hjertet i en SNOM, og som illustrasjonen til høyre viser består denne av en sylskarp optisk fiber som er limt fast til en elektrisk stemmegaffel som har en spesiell egenfrekvens. Det betyr at når den kobles til et elektrisk AC-signal så vil singnalet forsterkes dersom det ligger på den spesielle egenfrekvensen. Poenget er at denne egenfrekvensen i stor grad påvirkes av avstanden mellom proben og probas overfalte. Adhesjonskreftene som da oppstår demper nemlig vibrasjonene. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
* Et piezoelektrisk element scanner et ørlite område av en prøveoverflate. Dette området er typisk rundt 30 μm<sup>2</sup> eller mindre.<br />
* På kanten av piezoen sitter en liten probe som beveger seg opp og ned i henhold til topografien. Avstand mellom probe og prøve er konstant ved mindre annet er ønskelig (constant height mode).<br />
* En signalgenerator (PC) genererer et elektrisk AC signal som blir sendt inn i proben (excitation), og signalet som kommer ut blir observert av en datamaskin. Proben vil ha en amplitude-vs-frekvenskarakteristikk som et båndpassfilter, og amplituden er størst rundt egenfrekvensen.<br />
* Dersom datamaskinen merker at amplituden forandrer seg, betyr det at egenfrekvensen er forskjøvet - altså at avstanden mellom probe og prøve ikke lenger er den samme. Dette kompanseres for ved at piezoen beveger seg litt helt til egenfrekvensen er normal. Datamaskinen konstruerer et bilde av piezoens bevegelser, og det er dette som gir topografien. <br />
* Hittil er SNOMen bare en SPM. For å få en SNOM sendes en laserstråle gjennom den optiske fiberen i proben. Laserlyset eksiterer prøva, og signalet som emitteres samles delvis opp av den samme fiberen og sendes tilbake gjennom en "beam splitter" og til et spektrometer som logger amplituden. Da fås i tillegg et scan for lysfølsomheten.<br />
<br />
=== Sette sammen delene ===<br />
Her burde det egentlig stå noe mer, men klokka er 17:00 og sommerjobben min er per def. over for en time siden. Så da får det heller vente til neste gang (?). <br />
<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL3.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4604Scanning near-field optical microscope2010-08-20T14:49:21Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
=== Virkemåte ===<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan denne innretningen fungerer. Proben er selve hjertet i en SNOM, og som illustrasjonen til høyre viser består denne av en sylskarp optisk fiber som er limt fast til en elektrisk stemmegaffel som har en spesiell egenfrekvens. Det betyr at når den kobles til et elektrisk AC-signal så vil singnalet forsterkes dersom det ligger på den spesielle egenfrekvensen. Poenget er at denne egenfrekvensen i stor grad påvirkes av avstanden mellom proben og probas overfalte. Adhesjonskreftene som da oppstår demper nemlig vibrasjonene. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
* Et piezoelektrisk element scanner et ørlite område av en prøveoverflate. Dette området er typisk rundt 30 μm<sup>2</sup> eller mindre.<br />
* På kanten av piezoen sitter en liten probe som beveger seg opp og ned i henhold til topografien. Avstand mellom probe og prøve er konstant ved mindre annet er ønskelig (constant height mode).<br />
* En signalgenerator (PC) genererer et elektrisk AC signal som blir sendt inn i proben (excitation), og signalet som kommer ut blir observert av en datamaskin. Proben vil ha en amplitude-vs-frekvenskarakteristikk som et båndpassfilter, og amplituden er størst rundt egenfrekvensen.<br />
* Dersom datamaskinen merker at amplituden forandrer seg, betyr det at egenfrekvensen er forskjøvet - altså at avstanden mellom probe og prøve ikke lenger er den samme. Dette kompanseres for ved at piezoen beveger seg litt helt til egenfrekvensen er normal. Datamaskinen konstruerer et bilde av piezoens bevegelser, og det er dette som gir topografien. <br />
* Hittil er SNOMen bare en SPM. For å få en SNOM sendes en laserstråle gjennom den optiske fiberen i proben. Laserlyset eksiterer prøva, og signalet som emitteres samles delvis opp av den samme fiberen og sendes tilbake gjennom en "beam splitter" og til et spektrometer som logger amplituden. Da fås i tillegg et scan for lysfølsomheten.<br />
<br />
=== Sette sammen delene ===<br />
Her burde det egentlig stå noe mer, men klokka er 17:00 og sommerjobben min er per def. over for en time siden. Så da får det heller vente til neste gang (?). <br />
<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL3.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4603Scanning near-field optical microscope2010-08-20T14:22:20Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
=== Virkemåte ===<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan denne innretningen fungerer. Proben er selve hjertet i en SNOM, og som illustrasjonen til høyre viser består denne av en sylskarp optisk fiber som er limt fast til en elektrisk stemmegaffel som har en spesiell egenfrekvens. Det betyr at når den kobles til et elektrisk AC-signal så vil singnalet forsterkes dersom det ligger på den spesielle egenfrekvensen. Poenget er at denne egenfrekvensen i stor grad påvirkes av avstanden mellom proben og probas overfalte. Adhesjonskreftene som da oppstår demper nemlig vibrasjonene. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
* Et piezoelektrisk element scanner et ørlite område av en prøveoverflate. Dette området er typisk rundt 30 μm<sup>2</sup> eller mindre.<br />
* På kanten av piezoen sitter en liten probe som beveger seg opp og ned i henhold til topografien. Avstand mellom probe og prøve er konstant ved mindre annet er ønskelig (constant height mode).<br />
* En signalgenerator (PC) genererer et elektrisk AC signal som blir sendt inn i proben (excitation), og signalet som kommer ut blir observert av en datamaskin. Proben vil ha en amplitude-vs-frekvenskarakteristikk som et båndpassfilter, og amplituden er størst rundt egenfrekvensen.<br />
* Dersom datamaskinen merker at amplituden forandrer seg, betyr det at egenfrekvensen er forskjøvet - altså at avstanden mellom probe og prøve ikke lenger er den samme. Dette kompanseres for ved at piezoen beveger seg litt helt til egenfrekvensen er normal. Datamaskinen konstruerer et bilde av piezoens bevegelser, og det er dette som gir topografien. <br />
<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL3.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4602Scanning near-field optical microscope2010-08-20T14:21:21Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
=== Virkemåte ===<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan denne innretningen fungerer. Proben er selve hjertet i en SNOM, og som illustrasjonen til høyre viser består denne av en sylskarp optisk fiber som er limt fast til en elektrisk stemmegaffel som har en spesiell egenfrekvens. Det betyr at når den kobles til et elektrisk AC-signal så vil singnalet forsterkes dersom det ligger på den spesielle egenfrekvensen. Poenget er at denne egenfrekvensen i stor grad påvirkes av avstanden mellom proben og probas overfalte. Adhesjonskreftene som da oppstår demper nemlig vibrasjonene. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
* Et piezoelektrisk element scanner et ørlite område av en prøveoverflate. Dette området er typisk rundt 30 μm<sup>2</sup> eller mindre.<br />
* På kanten av piezoen sitter en liten probe som beveger seg opp og ned i henhold til topografien. Avstand mellom probe og prøve er konstant ved mindre annet er ønskelig (constant height mode).<br />
* En signalgenerator (PC) genererer et elektrisk AC signal som blir sendt inn i proben (excitation), og signalet som kommer ut blir observert av en datamaskin. Proben vil ha en amplitude-vs-frekvenskarakteristikk som et båndpassfilter, og amplituden er størst rundt egenfrekvensen.<br />
* Dersom datamaskinen merker at amplituden forandrer seg, betyr det at egenfrekvensen er forskjøvet - altså at avstanden mellom probe og prøve ikke lenger er den samme. Dette kompanseres for ved at piezoen beveger seg litt helt til egenfrekvensen er normal. Datamaskinen konstruerer et bilde av dette <br />
<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL3.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4601Scanning near-field optical microscope2010-08-20T14:05:33Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
=== Virkemåte ===<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan denne innretningen fungerer. Proben er selve hjertet i en SNOM, og som illustrasjonen til høyre viser består denne av en sylskarp optisk fiber som er limt fast til en elektrisk stemmegaffel som har en spesiell egenfrekvens. Det betyr at når den kobles til et elektrisk AC-signal så vil singnalet forsterkes dersom det ligger på den spesielle egenfrekvensen. Poenget er at denne egenfrekvensen i stor grad påvirkes av avstanden mellom proben og probas overfalte. Adhesjonskreftene som da oppstår demper nemlig vibrasjonene. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
* Et piezoelektrisk element scanner et ørlite område av prøveoverflaten. Dette området er typisk rundt 30 μm<sup>2</sup> eller mindre.<br />
* En signalgenerator (PC) genererer et elektrisk AC signal som blir sendt inn i proben (excitation), og signalet som kommer ut blir observert av en datamaskin. Proben vil ha en amplitude-vs-frekvenskarakteristikk som et båndpassfilter, og amplituden er størst rundt egenfrekvensen.<br />
* Dersom <br />
<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL3.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4600Scanning near-field optical microscope2010-08-20T14:03:33Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
=== Virkemåte ===<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan denne innretningen fungerer. Proben er selve hjertet i en SNOM, og som illustrasjonen til høyre viser består denne av en sylskarp optisk fiber som er limt fast til en elektrisk stemmegaffel som har en spesiell egenfrekvens. Det betyr at når den kobles til et elektrisk AC-signal så vil singnalet forsterkes dersom det ligger på den spesielle egenfrekvensen. Poenget er at denne egenfrekvensen i stor grad påvirkes av avstanden mellom proben og probas overfalte. Adhesjonskreftene som da oppstår demper nemlig vibrasjonene. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
* Et piezoelektrisk element scanner et ørlite område av prøveoverflaten. Dette området er typisk rundt 15 x 15 μm.<br />
* En signalgenerator (PC) genererer et elektrisk AC signal som blir sendt inn i proben (excitation), og signalet som kommer ut blir observert av en datamaskin. Proben vil ha en amplitude-vs-frekvenskarakteristikk som et båndpassfilter, og amplituden er størst rundt egenfrekvensen.<br />
* Dersom <br />
<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL3.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4599Scanning near-field optical microscope2010-08-20T13:59:34Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
=== Virkemåte ===<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan denne innretningen fungerer. Proben er selve hjertet i en SNOM, og som illustrasjonen til høyre viser består denne av en sylskarp optisk fiber som er limt fast til en elektrisk stemmegaffel som har en spesiell egenfrekvens. Det betyr at når den kobles til et elektrisk AC-signal så vil singnalet forsterkes dersom det ligger på den spesielle egenfrekvensen. Poenget er at denne egenfrekvensen i stor grad påvirkes av avstanden mellom proben og probas overfalte. Adhesjonskreftene som da oppstår demper nemlig vibrasjonene. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
* Et piezoelektrisk element scanner et ørlite område av prøveoverflaten. Dette området er kanskje på 10 x 10 /my m<br />
* En signalgenerator (PC) genererer et elektrisk AC signal som blir sendt inn i proben (excitation), og signalet som kommer ut blir observert av en datamaskin. Proben vil ha en amplitude-vs-frekvenskarakteristikk som et båndpassfilter, og amplituden er størst rundt egenfrekvensen.<br />
* Dersom <br />
<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL3.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4598Scanning near-field optical microscope2010-08-20T13:50:09Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
=== Virkemåte ===<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan denne innretningen fungerer. Proben er selve hjertet i en SNOM, og som illustrasjonen til høyre viser består denne av en sylskarp optisk fiber som er limt fast til en elektrisk stemmegaffel som har en spesiell egenfrekvens. Det betyr at når den kobles til et elektrisk AC-signal så vil singnalet forsterkes dersom det ligger på den spesielle egenfrekvensen. Poenget er at denne egenfrekvensen i stor grad påvirkes av avstanden mellom proben og probas overfalte. Adhesjonskreftene som da oppstår demper nemlig vibrasjonene. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
* En signalgenerator (PC) genererer et elektrisk AC signal med frekvens rundt egenfrekvensen til den elektriske <br />
<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL3.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4597Scanning near-field optical microscope2010-08-20T13:49:12Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
=== Virkemåte ===<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan denne innretningen fungerer. Proben er selve hjertet i en SNOM, og som illustrasjonen til høyre viser består denne av en sylskarp optisk fiber som er limt fast til en elektrisk stemmegaffel som har en spesiell egenfrekvens. Det betyr at når den kobles til et elektrisk AC-signal så vil singnalet forsterkes dersom det ligger på den spesielle egenfrekvensen. Poenget er at denne egenfrekvensen i stor grad påvirkes av avstanden mellom proben og probas overfalte. Adhesjonskreftene som da oppstår demper nemlig vibrasjonene. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
a) En signalgenerator (PC) genererer et elektrisk AC signal med frekvens rundt egenfrekvensen til den elektriske <br />
<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL3.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4596Scanning near-field optical microscope2010-08-20T13:44:27Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan denne innretningen fungerer. Proben er selve hjertet i en SNOM, og som illustrasjonen til høyre viser består denne av en sylskarp optisk fiber som er limt fast til en elektrisk stemmegaffel som har en spesiell egenfrekvens. Det betyr at når den kobles til et elektrisk AC-signal så vil singnalet forsterkes dersom det ligger på den spesielle egenfrekvensen. Poenget er at denne egenfrekvensen i stor grad påvirkes av avstanden mellom proben og probas overfalte. Adhesjonskreftene som da oppstår demper nemlig vibrasjonene. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
a) En signalgenerator (PC) genererer et elektrisk AC signal med frekvens rundt egenfrekvensen til den elektriske <br />
<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL3.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4595Scanning near-field optical microscope2010-08-20T12:51:38Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan denne innretningen fungerer. Proben er selve hjertet i en SNOM, og som illustrasjonen til høyre viser består denne av en sylskarp optisk fiber som er limt fast til en elektrisk stemmegaffel som har en spesiell egenfrekvens. Det betyr at når den kobles til et elektrisk AC-signal så vil singnalet forsterkes dersom det ligger på den spesielle egenfrekvensen. Poenget er at denne egenfrekvensen i stor grad påvirkes av avstanden mellom proben og probas overfalte. Adhesjonskreftene som da oppstår demper nemlig vibrasjonene. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
a) En signalgenerator (PC) genererer et elektrisk AC signal med frekvens rundt egenfrekvensen til den elektriske <br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL3.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Fil:SNOM_TOTAL3.png&diff=4594Fil:SNOM TOTAL3.png2010-08-20T12:50:24Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div></div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4593Scanning near-field optical microscope2010-08-20T12:41:16Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan denne innretningen fungerer. Proben er selve hjertet i en SNOM, og som illustrasjonen til høyre viser består denne av en sylskarp optisk fiber som er limt fast til en elektrisk stemmegaffel som har en spesiell egenfrekvens. Det betyr at når den kobles til et elektrisk AC-signal så vil singnalet forsterkes dersom det ligger på den spesielle egenfrekvensen. Poenget er at denne egenfrekvensen i stor grad påvirkes av avstanden mellom proben og probas overfalte. Adhesjonskreftene som da oppstår demper nemlig vibrasjonene. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
a) En signalgenerator (PC) genererer et elektrisk AC signal med frekvens rundt egenfrekvensen til den elektriske <br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL2.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4592Scanning near-field optical microscope2010-08-20T12:29:48Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan en SNOM fungerer. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
[[Image:SNOM_TOTAL2.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4591Scanning near-field optical microscope2010-08-20T12:29:21Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
<br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
<br />
Aller først er det på sin plass å si litt om hvordan en SNOM fungerer. Virkemåten kan summeres slik:<br />
<br />
[[Image:SNOM_TOTAL2.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4590Scanning near-field optical microscope2010-08-20T12:23:30Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:SNOM_TOTAL2.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet (forskerens arbeidsbord til høyre).]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4589Scanning near-field optical microscope2010-08-20T12:22:10Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:SNOM_TOTAL2.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Fil:SNOM_TOTAL2.png&diff=4588Fil:SNOM TOTAL2.png2010-08-20T12:20:43Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div></div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=SNOM&diff=4587SNOM2010-08-19T20:14:45Z<p>Andrerei: Ny side: Scanning near-field optical microscope</p>
<hr />
<div>[[Scanning near-field optical microscope]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4586Scanning near-field optical microscope2010-08-19T20:10:47Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:SNOM_TOTAL.png|600px|thumb|right|Skjematisk oppsett for det totale apparatet.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Fil:SNOM_TOTAL.png&diff=4585Fil:SNOM TOTAL.png2010-08-19T20:08:54Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div></div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4584Scanning near-field optical microscope2010-08-19T19:50:44Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. Apparatet er konstruert for enkel operasjon ved romtemperatur.<br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4583Scanning near-field optical microscope2010-08-19T13:18:48Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010 av Helge Wemans gruppe for semiconducting nanowires. Dette var første gang en SNOM ble konstruert fra grunnen av på NTNU, og postdoc Phillip Olk var veileder for prosjektet. <br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4582Scanning near-field optical microscope2010-08-19T12:26:22Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du grovoppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010.<br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4581Scanning near-field optical microscope2010-08-19T12:19:49Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du oppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010.<br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
[[Image:Stage2.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
blablabla:<br />
<br />
''Å bygge en SNOM for vanlige romforhold. (figurer, oppsett, fysiske prinsipper, proben, signalforsterker, koblingsboks, mekanikk, stage, optikk, laser, arbeidstegninger, kretser, første bilder, utseende I bruk, erfaringer, konklusjon)''</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Fil:Stage2.png&diff=4580Fil:Stage2.png2010-08-19T12:18:55Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div></div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4579Scanning near-field optical microscope2010-08-19T12:15:33Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du oppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010.<br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
[[Image:Stage.png|400px|thumb|right|Nærbilde av noen av de mest sentrale elementene - piezo, probe og prøve.]]<br />
blablabla:<br />
<br />
''Å bygge en SNOM for vanlige romforhold. (figurer, oppsett, fysiske prinsipper, proben, signalforsterker, koblingsboks, mekanikk, stage, optikk, laser, arbeidstegninger, kretser, første bilder, utseende I bruk, erfaringer, konklusjon)''</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Fil:Stage.png&diff=4578Fil:Stage.png2010-08-19T12:13:33Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div></div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4577Scanning near-field optical microscope2010-08-19T11:28:06Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du oppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010.<br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
<br />
<br />
[[Image:Overview.png|400px|thumb|right|Oversikt over noen av de viktigste delene.]]<br />
<br />
blablabla:<br />
<br />
''Å bygge en SNOM for vanlige romforhold. (figurer, oppsett, fysiske prinsipper, proben, signalforsterker, koblingsboks, mekanikk, stage, optikk, laser, arbeidstegninger, kretser, første bilder, utseende I bruk, erfaringer, konklusjon)''</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Fil:Overview.png&diff=4576Fil:Overview.png2010-08-19T11:27:28Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div></div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4575Scanning near-field optical microscope2010-08-19T10:55:31Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du oppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010.<br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
<br />
blablabla:<br />
<br />
''Å bygge en SNOM for vanlige romforhold. (figurer, oppsett, fysiske prinsipper, proben, signalforsterker, koblingsboks, mekanikk, stage, optikk, laser, arbeidstegninger, kretser, første bilder, utseende I bruk, erfaringer, konklusjon)''</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4574Scanning near-field optical microscope2010-08-19T10:54:17Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate gjort med SNOM.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du oppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010.<br />
<br />
[[Image:DSC00219.JPG|400px|thumb|right|SNOM - bare halvferdig.]]<br />
<br />
[[Image:DSC00223.JPG|400px|thumb|right|Proben scanner over en test grid for kalibrering.]]<br />
<br />
blablabla:<br />
<br />
''Å bygge en SNOM for vanlige romforhold. (figurer, oppsett, fysiske prinsipper, proben, signalforsterker, koblingsboks, mekanikk, stage, optikk, laser, arbeidstegninger, kretser, første bilder, utseende I bruk, erfaringer, konklusjon)''</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4573Scanning near-field optical microscope2010-08-19T10:51:50Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer. Slik får man to interessante datasett samtidig: prøvas topografi og lysfølsomhet. <br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate gjort med SNOM.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du oppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010). Eksempelvis ble denne oppgaven gitt som sommerjobb på IET i 2010.<br />
<br />
<br />
<br />
blablabla:<br />
<br />
''Å bygge en SNOM for vanlige romforhold. (figurer, oppsett, fysiske prinsipper, proben, signalforsterker, koblingsboks, mekanikk, stage, optikk, laser, arbeidstegninger, kretser, første bilder, utseende I bruk, erfaringer, konklusjon)''</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Fil:DSC00223.JPG&diff=4572Fil:DSC00223.JPG2010-08-19T10:42:10Z<p>Andrerei: En fiberoptisk probe scanner overflaten på en test grid.</p>
<hr />
<div>En fiberoptisk probe scanner overflaten på en test grid.</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Fil:DSC00219.JPG&diff=4571Fil:DSC00219.JPG2010-08-19T10:40:03Z<p>Andrerei: SNOM setup uten laser.</p>
<hr />
<div>SNOM setup uten laser.</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4570Scanning near-field optical microscope2010-08-19T10:37:01Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer.<br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate gjort med SNOM.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon ==<br />
<br />
Her får du oppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010).<br />
<br />
blablabla:<br />
<br />
''Å bygge en SNOM for vanlige romforhold. (figurer, oppsett, fysiske prinsipper, proben, signalforsterker, koblingsboks, mekanikk, stage, optikk, laser, arbeidstegninger, kretser, første bilder, utseende I bruk, erfaringer, konklusjon)''</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4569Scanning near-field optical microscope2010-08-19T10:35:00Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|200px|thumb|right|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer.<br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate gjort med SNOM.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon av en SNOM ==<br />
<br />
Her får du oppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010).<br />
<br />
blablabla:<br />
<br />
''Å bygge en SNOM for vanlige romforhold. (figurer, oppsett, fysiske prinsipper, proben, signalforsterker, koblingsboks, mekanikk, stage, optikk, laser, arbeidstegninger, kretser, første bilder, utseende I bruk, erfaringer, konklusjon)''</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4568Scanning near-field optical microscope2010-08-19T10:33:36Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>[[Image:DSC00254.JPG|400px|thumb|left|Fiberoptisk laser til bruk for SNOM.]]<br />
<br />
Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer.<br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate gjort med SNOM.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon av en SNOM ==<br />
<br />
Her får du oppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010).<br />
<br />
blablabla:<br />
<br />
''Å bygge en SNOM for vanlige romforhold. (figurer, oppsett, fysiske prinsipper, proben, signalforsterker, koblingsboks, mekanikk, stage, optikk, laser, arbeidstegninger, kretser, første bilder, utseende I bruk, erfaringer, konklusjon)''</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Fil:DSC00254.JPG&diff=4567Fil:DSC00254.JPG2010-08-19T10:30:42Z<p>Andrerei: Optisk fiber med 650 nm laser. Diffraksjonsmønster.</p>
<hr />
<div>Optisk fiber med 650 nm laser. Diffraksjonsmønster.</div>Andrereihttp://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_near-field_optical_microscope&diff=4566Scanning near-field optical microscope2010-08-19T08:56:53Z<p>Andrerei: </p>
<hr />
<div>Scanning near-field optical microscopy (SNOM, NSOM) er en [[SPM]]-teknikk hvor en optisk fiber benyttes som probe. I praksis fungerer instrumentet som SPM i non-contact mode og proben er aldri i fysisk kontakt med prøven. Likevel er metoden unik fordi det går en laserstråle gjennom fiberen som treffer prøva, og signalet som reflekteres av overflaten samles opp av den samme proben og analyseres av et spektrometer.<br />
<br />
[[Image:First02TopoFwd.jpg|400px|thumb|right|Topografiscan av en overflate gjort med SNOM.]]<br />
<br />
<br />
== Konstruksjon av en SNOM ==<br />
<br />
Her får du oppskriften på hvordan du kan lage din egen SNOM. Pris: ca. NOK 125.000,- (pr. 2010).<br />
<br />
blablabla:<br />
<br />
''Å bygge en SNOM for vanlige romforhold. (figurer, oppsett, fysiske prinsipper, proben, signalforsterker, koblingsboks, mekanikk, stage, optikk, laser, arbeidstegninger, kretser, første bilder, utseende I bruk, erfaringer, konklusjon)''</div>Andrerei