Transmission Electron Microscopy

Fra Nanowiki
Revisjon per 10. mar. 2009 kl. 02:25 av Vidarton (diskusjon | bidrag)

Hopp til: navigasjon, søk

Dette er et av to typer elektronmikroskop. Med en TEM får man god oppløsning, omtrent ned på atomært nivå. Denne saken sender elektroner ned gjennom et rør som innehar en del elektromagnetiske linser som får alt til å bli bra. Det er flere forskjellige ting man kan få ut av og gjøre med en TEM og noen forskjellige saker står derfor under.

High Resolution TEM

Høy oppløsning. HØY!

High Angle Annular Dark Field

Samme greie som i optisk mikroskopi, bare det at det ikke er samme greia allikevel.


Electron Energy-Loss Spectroscopy

Hvis man fjerner den vanlige detektoren i en TEM, og i stedet lar elektronene passere igjennom et magnetisk prisme slik at de blir avbøyd på grunn av Lorentz-kraften, vil man kunne filtrere elektronene etter energi. Dette fordi elektroner med høy energi, og dermed høy hastighet, vil kreve en lengre distanse til å bli avbøyd 90 grader enn elektroner som går saktere. Konsekvensen blir dermed at man får skilt ut elektronene i rommet basert på deres energi, på samme måte som man kan spre lys til et spekter vha. et optisk prisme.

Slik energiatskillelse er interessant siden elektroner som blir sendt gjennom en prøve i mange tilfeller vil tape litt energi. Energien elektronene taper skyldes vekselvirkninger med materialet i prøven, og energien elektronene taper vil dermed være karakteristisk for materialet det passerer igjennom.


Energy Filtered TEM

Gitt et oppsett som ved EELS, vil man etter det magnetiske prismet ha signalet spredd i rommet etter elektronenergi, og signalet vil være i resiprokt rom. Dette vil si at i et hvert "energibånd" (høydeutsnitt), vil ha et komplett romlig bilde av prøven. Hvis man da bruker et apertur til å kun velge seg ut elektroner med en viss energi, og konverterer signalet tilbake til reelt rom, vil man få et bildet av hvor i prøven elektroner med en viss energi kommer i fra. Da forskjellige materialer gjerne gir større energitap for elektronene som passerer, vil man kunne bruke EFTEM til å lokalisere spesifikke materialer i prøven.

Scanning TEM