Forskjell mellom versjoner av «Transmission Electron Microscopy»

Fra Nanowiki
Hopp til: navigasjon, søk
(High Resolution TEM)
(High Angle Annular Dark Field)
Linje 7: Linje 7:
   
 
== High Angle Annular Dark Field ==
 
== High Angle Annular Dark Field ==
  +
Kommer av elektroner som blir avbøyd kraftig av tunge atom-kjerner (Z-kontrast). HAADF er altså avhengig av størrelsen på atomene og ikke strukturen til latticen, som vanlig DF er.
 
Samme greie som i optisk mikroskopi, bare det at det ikke er samme greia allikevel.
 
 
   
 
== Electron Energy-Loss Spectroscopy ==
 
== Electron Energy-Loss Spectroscopy ==

Revisjonen fra 25. mai 2009 kl. 10:15

Dette er et av to typer elektronmikroskop. Med en TEM får man god oppløsning, omtrent ned på atomært nivå. Denne saken sender elektroner ned gjennom et rør som innehar en del elektromagnetiske linser som får alt til å bli bra. Det er flere forskjellige ting man kan få ut av og gjøre med en TEM og noen forskjellige saker står derfor under.

High Resolution TEM

Bruker en kombinasjon av DF og BF.

Høy oppløsning. HØY!

High Angle Annular Dark Field

Kommer av elektroner som blir avbøyd kraftig av tunge atom-kjerner (Z-kontrast). HAADF er altså avhengig av størrelsen på atomene og ikke strukturen til latticen, som vanlig DF er.

Electron Energy-Loss Spectroscopy

Hvis man fjerner den vanlige detektoren i en TEM, og i stedet lar elektronene passere igjennom et magnetisk prisme slik at de blir avbøyd på grunn av Lorentz-kraften, vil man kunne filtrere elektronene etter energi. Dette fordi elektroner med høy energi, og dermed høy hastighet, vil kreve en lengre distanse til å bli avbøyd 90 grader enn elektroner som går saktere. Konsekvensen blir dermed at man får skilt ut elektronene i rommet basert på deres energi, på samme måte som man kan spre lys til et spekter vha. et optisk prisme.

Slik energiatskillelse er interessant siden elektroner som blir sendt gjennom en prøve i mange tilfeller vil tape litt energi. Energien elektronene taper skyldes vekselvirkninger med materialet i prøven, og energien elektronene taper vil dermed være karakteristisk for materialet det passerer igjennom.


Energy Filtered TEM

Gitt et oppsett som ved EELS, vil man etter det magnetiske prismet ha signalet spredd i rommet etter elektronenergi, og signalet vil være i resiprokt rom. Dette vil si at i et hvert "energibånd" (høydeutsnitt), vil ha et komplett romlig bilde av prøven. Hvis man da bruker et apertur til å kun velge seg ut elektroner med en viss energi, og konverterer signalet tilbake til reelt rom, vil man få et bildet av hvor i prøven elektroner med en viss energi kommer i fra. Da forskjellige materialer gjerne gir større energitap for elektronene som passerer, vil man kunne bruke EFTEM til å lokalisere spesifikke materialer i prøven.

Scanning TEM