Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
(→Læringsressurser) |
|||
| Linje 32: | Linje 32: | ||
* [http://www.ammrf.org.au/myscope/ MyScopes oversikt over forskjellige karakteriseringsteknikker] |
* [http://www.ammrf.org.au/myscope/ MyScopes oversikt over forskjellige karakteriseringsteknikker] |
||
| − | * [[Kategori:Teknikker i tools]] |
+ | * [[:Kategori:Teknikker i tools]] |
[[Kategori:Obligatoriske emner]] |
[[Kategori:Obligatoriske emner]] |
||
Nåværende revisjon fra 5. jan. 2017 kl. 15:44
|
|
Innhold
Om emnet
Emnet er obligatorisk, og er med i fagplanen for 5. semester.
Faglig innhold
Emnet er prosjektbasert, hvor man går sammen i grupper og velger et prosjekt som involverer bruk av karakteriseringsteknikker på nanoskala. Det leveres til slutt en rapport fra prosjektet. Det gis en viss innføring i slike karakteriseringsteknikker som nevnt i form av tre forelesninger holdt av foreleser i begynnelsen av semesteret, og det suppleres siden med presentasjoner av teknikker holdt av studenter. Se teknikker i tools.
Anbefalte forkunnskaper
Grunnkurs i materialer (for eksempel TMT4185 eller tilsvarende).
Pensumlitteratur
Ingen.
Erfaringer
Labarbeidet er til tider svært tidkrevende, men oppleves som veldig lærerikt. Emnet er veldig praktisk retta.
NTNUs emnebeskrivelse
Emnet behandler karakteriserings- og strukturingsteknikker med en høy romlig (mindre enn 100 nm) oppløsning, som er relevant for nanoteknologi. Aktuelle teknikker kan være sveipe- og transmisjonselektronmikroskopi, focused ion beam og atomkraftmikroskopi. I tillegg blir bilde- og databehandling diskutert. Teori og teknikker blir anvendt i labøvinger.
