Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»

Fra Nanowiki
Hopp til: navigasjon, søk
(Om emnet)
Linje 32: Linje 32:
   
 
[[Kategori:Obligatoriske emner]]
 
[[Kategori:Obligatoriske emner]]
[[Kategori:Fag 6. semester]]
+
[[Kategori:Fag 5. semester]]
 
[[Kategori:Fag]]
 
[[Kategori:Fag]]

Revisjonen fra 20. des. 2016 kl. 13:07

  • Institutt: IFY
  • Vurderingsform:: Skriftlig eksamen (50 %) og arbeider (50 %).
  • Hjelpemiddelkode D: Ingen trykte eller håndskrevne hjelpemidler tillatt. Bestemt, enkel kalkulator tillatt.
  • Øvingsopplegg: -

Om emnet

Emnet er obligatorisk, og er med i fagplanen for 5. semester.

Faglig innhold

Emnet er prosjektbasert, hvor man går sammen i grupper og velger et prosjekt som involverer bruk av karakteriseringsteknikker på nanoskala. Det leveres til slutt en rapport fra prosjektet. Det gis en viss innføring i slike karakteriseringsteknikker som nevnt i form av tre forelesninger holdt av foreleser i begynnelsen av semesteret, og det suppleres siden med presentasjoner av teknikker holdt av studenter. Se teknikker i tools.

Anbefalte forkunnskaper

Grunnkurs i materialer (for eksempel TMT4185 eller tilsvarende).

Pensumlitteratur

Ingen.

Erfaringer

Labarbeidet er til tider svært tidkrevende, men oppleves som veldig lærerikt. Emnet er veldig praktisk retta.

NTNUs emnebeskrivelse

Emnet behandler karakteriserings- og strukturingsteknikker med en høy romlig (mindre enn 100 nm) oppløsning, som er relevant for nanoteknologi. Aktuelle teknikker kan være sveipe- og transmisjonselektronmikroskopi, focused ion beam og atomkraftmikroskopi. I tillegg blir bilde- og databehandling diskutert. Teori og teknikker blir anvendt i labøvinger.

Lenker

NTNUs sider om emnet

Læringsressurser