Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
(Ny side: == Faginformasjon == Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD...) |
(→Faginformasjon) |
||
| Linje 6: | Linje 6: | ||
Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. |
Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. |
||
Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc |
Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc |
||
| + | |||
| + | == Liste over forkortelser i Nanomaterialer == |
||
| + | AFM - Atomic Force Microscope |
||
| + | STM - Scanning Tunnelign Microscope |
||
| + | XRD - X-Ray Diffraction |
||
| + | EDS - Energy Dispersive Spectroscopy |
||
| + | EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy |
||
| + | XPS - X-ray Powder Spectroscopy (?) |
||
| + | TEM - Transmission Electron Microscopy |
||
| + | SEM - Scanning Electron Microscopy |
||
| + | FIB - Focused Ion Beam |
||
Revisjonen fra 29. sep. 2008 kl. 13:50
Faginformasjon
Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. Innføring i eksperimentelle metoder: Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc
Liste over forkortelser i Nanomaterialer
AFM - Atomic Force Microscope STM - Scanning Tunnelign Microscope XRD - X-Ray Diffraction EDS - Energy Dispersive Spectroscopy EELS - Electron Energy-Loss Spectroscopy XPS - X-ray Powder Spectroscopy (?) TEM - Transmission Electron Microscopy SEM - Scanning Electron Microscopy FIB - Focused Ion Beam
