Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
Fra Nanowiki
(→Læringsressurser) |
|||
| (9 mellomliggende revisjoner av 4 brukere er ikke vist) | |||
| Linje 1: | Linje 1: | ||
{{Infobox |
{{Infobox |
||
| |
| |
||
| − | |*'''Institutt''': |
+ | |*'''Institutt''': IFY |
| − | *'''Vurderingsform:''': |
+ | *'''Vurderingsform:''': Skriftlig eksamen (50 %) og arbeider (50 %). |
| + | *'''Hjelpemiddelkode D:''' ''Ingen trykte eller håndskrevne hjelpemidler tillatt. Bestemt, enkel kalkulator tillatt.'' |
||
| − | *'''Hjelpemiddelkode''': |
||
| − | *'''Øvingsopplegg''': |
+ | *'''Øvingsopplegg''': - |
}} |
}} |
||
== Om emnet== |
== Om emnet== |
||
| + | Emnet er obligatorisk, og er med i fagplanen for 5. semester. |
||
| + | |||
=== Faglig innhold=== |
=== Faglig innhold=== |
||
| + | Emnet er prosjektbasert, hvor man går sammen i grupper og velger et prosjekt som involverer bruk av karakteriseringsteknikker på nanoskala. Det leveres til slutt en rapport fra prosjektet. Det gis en viss innføring i slike karakteriseringsteknikker som nevnt i form av tre forelesninger holdt av foreleser i begynnelsen av semesteret, og det suppleres siden med presentasjoner av teknikker holdt av studenter. Se [[:Kategori: Teknikker i tools|teknikker i tools]]. |
||
| − | Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. |
||
| − | Innføring i eksperimentelle metoder: |
||
| − | Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. |
||
| − | Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. |
||
| − | Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. |
||
| − | Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc |
||
| − | === |
+ | === Anbefalte forkunnskaper === |
| + | Grunnkurs i materialer (for eksempel TMT4185 eller tilsvarende). |
||
| − | Det er ikke obligatoriske regneøvinger i faget, men enkle laboratorieøvinger og større labrapporter. Våren 2008 skulle det leveres [[Rapport|rapporter]] etter Optics 1 og Optics 2 lab, og tilslutt en case study, som er en samlerapport av alle de tidligere labøktene. Den foreløpige øvingsplanen er som følger: |
||
| + | === Pensumlitteratur === |
||
| − | {| frame=box rules="all" |
||
| + | Ingen. |
||
| − | !WEEK !! TOPIC |
||
| − | |- |
||
| − | | 7 || Crystallography |
||
| − | |- |
||
| − | | 9(Tuesday) || Scattering, structure factors and XRD |
||
| − | |- |
||
| − | | 10 || Electron microscopy I |
||
| − | |- |
||
| − | | 12 || Electron microscopy II (electron diffraction) |
||
| − | |- |
||
| − | | 13 || Miscellaneous I |
||
| − | |- |
||
| − | | 14 || Spectroscopy |
||
| − | |- |
||
| − | | 17 || Miscellaneous II |
||
| − | |- |
||
| − | | 18 || Miscellaneous III (exam08) |
||
| − | |} |
||
| + | === Erfaringer === |
||
| + | Labarbeidet er til tider svært tidkrevende, men oppleves som veldig lærerikt. Emnet er veldig praktisk retta. |
||
| − | === |
+ | === NTNUs emnebeskrivelse === |
| + | ''Emnet behandler karakteriserings- og strukturingsteknikker med en høy romlig (mindre enn 100 nm) oppløsning, som er relevant for nanoteknologi. Aktuelle teknikker kan være sveipe- og transmisjonselektronmikroskopi, focused ion beam og atomkraftmikroskopi. |
||
| − | Listen er ikke utfyllende |
||
| + | I tillegg blir bilde- og databehandling diskutert. Teori og teknikker blir anvendt i labøvinger.'' |
||
| ⚫ | |||
| − | *[[Diffraction]] |
||
| − | *[[SPM]] - Scanning Probe Microscopy |
||
| − | *[[BF]] - Bright Field |
||
| − | *[[DF]] - Dark Field |
||
| − | *[[PC]] - Phase Contrast |
||
| − | *[[AFM]] - Atomic Force Microscopy |
||
| − | *[[STM]] - Scanning Tunneling Microscopy |
||
| − | *[[XRD]] - X-Ray Diffraction |
||
| − | *[[EDS]] - Energy Dispersive Spectroscopy |
||
| − | *[[EELS]] - Electron Energy-Loss Spectroscopy |
||
| − | *[[XPS]] - X-ray Photon Spectroscopy |
||
| − | *[[TEM]] - Transmission Electron Microscopy |
||
| − | *[[HRTEM]] - High Resolution Transmission Electron Microscopy |
||
| − | *[[SEM]] - Scanning Electron Microscopy |
||
| − | *[[FIB]] - Focused Ion Beam |
||
| − | *[[HAADF]] - High Angle Annular Dark Field |
||
| − | *[[EFTEM]] - Energy Filtered TEM |
||
| − | *[[STEM]] - Scanning TEM |
||
| − | |||
| ⚫ | |||
| − | |||
| ⚫ | |||
===NTNUs sider om emnet=== |
===NTNUs sider om emnet=== |
||
*[http://www.ntnu.no/studier/emner?emnekode=TFY4330 NTNUs fagbeskrivelse] |
*[http://www.ntnu.no/studier/emner?emnekode=TFY4330 NTNUs fagbeskrivelse] |
||
| + | ===Læringsressurser=== |
||
| + | |||
| + | * [http://www.ammrf.org.au/myscope/ MyScopes oversikt over forskjellige karakteriseringsteknikker] |
||
| ⚫ | |||
[[Kategori:Obligatoriske emner]] |
[[Kategori:Obligatoriske emner]] |
||
| − | [[Kategori:Fag |
+ | [[Kategori:Fag 5. semester]] |
[[Kategori:Fag]] |
[[Kategori:Fag]] |
||
Nåværende revisjon fra 5. jan. 2017 kl. 15:44
|
|
Innhold
Om emnet
Emnet er obligatorisk, og er med i fagplanen for 5. semester.
Faglig innhold
Emnet er prosjektbasert, hvor man går sammen i grupper og velger et prosjekt som involverer bruk av karakteriseringsteknikker på nanoskala. Det leveres til slutt en rapport fra prosjektet. Det gis en viss innføring i slike karakteriseringsteknikker som nevnt i form av tre forelesninger holdt av foreleser i begynnelsen av semesteret, og det suppleres siden med presentasjoner av teknikker holdt av studenter. Se teknikker i tools.
Anbefalte forkunnskaper
Grunnkurs i materialer (for eksempel TMT4185 eller tilsvarende).
Pensumlitteratur
Ingen.
Erfaringer
Labarbeidet er til tider svært tidkrevende, men oppleves som veldig lærerikt. Emnet er veldig praktisk retta.
NTNUs emnebeskrivelse
Emnet behandler karakteriserings- og strukturingsteknikker med en høy romlig (mindre enn 100 nm) oppløsning, som er relevant for nanoteknologi. Aktuelle teknikker kan være sveipe- og transmisjonselektronmikroskopi, focused ion beam og atomkraftmikroskopi. I tillegg blir bilde- og databehandling diskutert. Teori og teknikker blir anvendt i labøvinger.
