Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
(→Om emnet) |
(→Om emnet) |
||
Linje 11: | Linje 11: | ||
=== Faglig innhold=== |
=== Faglig innhold=== |
||
− | Emnet er prosjektbasert, hvor man går sammen i grupper og velger et prosjekt som involverer bruk av karakteriseringsteknikker på nanoskala. Det leveres til slutt en rapport fra prosjektet. Det gis en viss innføring i slike karakteriseringsteknikker som nevnt i form av tre forelesninger holdt av foreleser i begynnelsen av semesteret, og det suppleres siden med presentasjoner av teknikker holdt av studenter. Se [[Kategori: Teknikker i tools]]. |
+ | Emnet er prosjektbasert, hvor man går sammen i grupper og velger et prosjekt som involverer bruk av karakteriseringsteknikker på nanoskala. Det leveres til slutt en rapport fra prosjektet. Det gis en viss innføring i slike karakteriseringsteknikker som nevnt i form av tre forelesninger holdt av foreleser i begynnelsen av semesteret, og det suppleres siden med presentasjoner av teknikker holdt av studenter. Se [[:Kategori: Teknikker i tools|teknikker i tools]]. |
=== Anbefalte forkunnskaper === |
=== Anbefalte forkunnskaper === |
Revisjonen fra 20. des. 2016 kl. 14:07
|
Innhold
Om emnet
Emnet er obligatorisk, og er med i fagplanen for 5. semester.
Faglig innhold
Emnet er prosjektbasert, hvor man går sammen i grupper og velger et prosjekt som involverer bruk av karakteriseringsteknikker på nanoskala. Det leveres til slutt en rapport fra prosjektet. Det gis en viss innføring i slike karakteriseringsteknikker som nevnt i form av tre forelesninger holdt av foreleser i begynnelsen av semesteret, og det suppleres siden med presentasjoner av teknikker holdt av studenter. Se teknikker i tools.
Anbefalte forkunnskaper
Grunnkurs i materialer (for eksempel TMT4185 eller tilsvarende).
Pensumlitteratur
Ingen.
Erfaringer
Labarbeidet er til tider svært tidkrevende, men oppleves som veldig lærerikt. Emnet er veldig praktisk retta.
NTNUs emnebeskrivelse
Emnet behandler karakteriserings- og strukturingsteknikker med en høy romlig (mindre enn 100 nm) oppløsning, som er relevant for nanoteknologi. Aktuelle teknikker kan være sveipe- og transmisjonselektronmikroskopi, focused ion beam og atomkraftmikroskopi. I tillegg blir bilde- og databehandling diskutert. Teori og teknikker blir anvendt i labøvinger.