Forskjell mellom versjoner av «TFY4330 - Nanoverktøy»
(→Om emnet) |
|||
| Linje 8: | Linje 8: | ||
== Om emnet== |
== Om emnet== |
||
| + | Emnet er obligatorisk, og er med i fagplanen for 5. semester. |
||
| ⚫ | |||
| − | Innføring i teori for materialer i forskjellige faser, krystallografi og "probe-matter"-interaksjon. |
||
| − | Innføring i eksperimentelle metoder: |
||
| − | Diffraksjonsteknikker: XRD og elektrondiffraksjon. |
||
| − | Spektroskopi: EDS, EELS, XPS, optisk spektroskopi, Auger. |
||
| − | Mikroskopi: lysmikroskopi, TEM, SEM, SPM, SNOM. |
||
| − | Manipulering: STM/AFM, optiske pinsetter, FIB, etc |
||
| ⚫ | |||
| − | Emnet har siden Justin Wells overtok gått over til å være prosjektbasert. Man går sammen som ei gruppe og velger et prosjekt som involverer bruk av teknikkene emnet omfatter, og skriver en rapport på slutten av semesteret. |
||
| + | Emnet er prosjektbasert, hvor man går sammen i grupper og velger et prosjekt som involverer bruk av karakteriseringsteknikker på nanoskala. Det leveres til slutt en rapport fra prosjektet. Det gis en viss innføring i slike karakteriseringsteknikker som nevnt i form av tre forelesninger holdt av foreleser i begynnelsen av semesteret, og det suppleres siden med presentasjoner av teknikker holdt av studenter. Se [[Kategori: Teknikker i tools]]. |
||
| − | === |
+ | === Anbefalte forkunnskaper === |
| + | Grunnkurs i materialer (for eksempel TMT4185 eller tilsvarende). |
||
| − | Listen er ikke utfyllende |
||
| + | === Pensumlitteratur === |
||
| − | *[[Diffraction]] |
||
| + | Ingen. |
||
| − | *[[SPM]] - Scanning Probe Microscopy |
||
| − | *[[BF]] - Bright Field |
||
| − | *[[DF]] - Dark Field |
||
| − | *[[PC]] - Phase Contrast |
||
| − | *[[AFM]] - Atomic Force Microscopy |
||
| − | *[[STM]] - Scanning Tunneling Microscopy |
||
| − | *[[XRD]] - X-Ray Diffraction |
||
| − | *[[EDS]] - Energy Dispersive Spectroscopy |
||
| − | *[[EELS]] - Electron Energy-Loss Spectroscopy |
||
| − | *[[XPS]] - X-ray Photon Spectroscopy |
||
| − | *[[TEM]] - Transmission Electron Microscopy |
||
| − | *[[HRTEM]] - High Resolution Transmission Electron Microscopy |
||
| − | *[[SEM]] - Scanning Electron Microscopy |
||
| − | *[[FIB]] - Focused Ion Beam |
||
| − | *[[HAADF]] - High Angle Annular Dark Field |
||
| − | *[[EFTEM]] - Energy Filtered TEM |
||
| − | *[[STEM]] - Scanning TEM |
||
| + | === Erfaringer === |
||
| − | [[Kategori: Teknikker i tools]] |
||
| + | Labarbeidet er til tider svært tidkrevende, men oppleves som veldig lærerikt. Emnet er veldig praktisk retta. |
||
| − | ===NTNUs emnebeskrivelse=== |
+ | === NTNUs emnebeskrivelse === |
| + | ''Emnet behandler karakteriserings- og strukturingsteknikker med en høy romlig (mindre enn 100 nm) oppløsning, som er relevant for nanoteknologi. Aktuelle teknikker kan være sveipe- og transmisjonselektronmikroskopi, focused ion beam og atomkraftmikroskopi. |
||
| + | I tillegg blir bilde- og databehandling diskutert. Teori og teknikker blir anvendt i labøvinger.'' |
||
== Lenker == |
== Lenker == |
||
Revisjonen fra 20. des. 2016 kl. 14:06
|
|
Innhold
Om emnet
Emnet er obligatorisk, og er med i fagplanen for 5. semester.
Faglig innhold
Emnet er prosjektbasert, hvor man går sammen i grupper og velger et prosjekt som involverer bruk av karakteriseringsteknikker på nanoskala. Det leveres til slutt en rapport fra prosjektet. Det gis en viss innføring i slike karakteriseringsteknikker som nevnt i form av tre forelesninger holdt av foreleser i begynnelsen av semesteret, og det suppleres siden med presentasjoner av teknikker holdt av studenter. Se.
Anbefalte forkunnskaper
Grunnkurs i materialer (for eksempel TMT4185 eller tilsvarende).
Pensumlitteratur
Ingen.
Erfaringer
Labarbeidet er til tider svært tidkrevende, men oppleves som veldig lærerikt. Emnet er veldig praktisk retta.
NTNUs emnebeskrivelse
Emnet behandler karakteriserings- og strukturingsteknikker med en høy romlig (mindre enn 100 nm) oppløsning, som er relevant for nanoteknologi. Aktuelle teknikker kan være sveipe- og transmisjonselektronmikroskopi, focused ion beam og atomkraftmikroskopi. I tillegg blir bilde- og databehandling diskutert. Teori og teknikker blir anvendt i labøvinger.
